136일, 11시간, 22분 - Togotech

"프루버"의 두 판 사이의 차이
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<li>Tek사에서 작성한, GPIB 통신을 위한 세팅방법 - 6p
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<li>어느 대학 연구실에서 작성한, 사용방법 - 13p
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<li>명령어 요약 - 14p
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<li>EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어
 
<li>EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어
 
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<li>본체 GPIB 주소: 702
 
<li>본체 GPIB 주소: 702
 
<li>기본 prober01.ibw [[prober01-ibw.txt]]
 
<li>기본 prober01.ibw [[prober01-ibw.txt]]
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<li>칩 위치를 눈으로 보면서 조정하면서, 해당 위치를 추출하여 프루빙하는 방법 prober02.ibw [[prober03-ibw.txt]]
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<li>주요 명령어
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<li>?P 다이절대좌표출력(first die 기준으로) : XnYn (n=-999999~999999)
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<li>?Z0 현재 척높이 : Zn (n=0~4000), 0.1단위이다. 그러므로 1/10해야 한다.
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<li>프루버 본체 등
 
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<li>20/04/28 - 끝이 뭉툭한 직선 바늘
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<li>20/05/20 - 0.2x0.2mm LED를 측정하기 위해서 뾰족한 구부러진 바늘 8개를 입수하여, 새롭게 장착함.
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2020년 5월 21일 (목) 12:48 판

프루버

  1. 링크
    1. 전자부품
      1. 프루버
  2. 투고기술 보유, EG2001X 프루버
    1. 메뉴얼
      4. EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어
    2. 분석 엑셀
      1. 반지름 특성 분석 엑셀 파일
    3. 동작 프로그램
      1. 본체 GPIB 주소: 702
      2. 기본 prober01.ibw prober01-ibw.txt
      3. 칩 위치를 눈으로 보면서 조정하면서, 해당 위치를 추출하여 프루빙하는 방법 prober02.ibw prober03-ibw.txt
      4. 주요 명령어
        1. ?P 다이절대좌표출력(first die 기준으로) : XnYn (n=-999999~999999)
        2. ?Z0 현재 척높이 : Zn (n=0~4000), 0.1단위이다. 그러므로 1/10해야 한다.
    4. 프루버 본체 등
      1. 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
        • 140507 140730.jpg
      2. 14/05/13 기존 바퀴(하양)가 많이 손상당해, 대차 바퀴(빨강)로 교환함
        • eg2001x 001.jpg
        • eg2001x 002.jpg
      3. 14/09/12 김동현사장으로 선물받은, 척 베이스(진공, 자석 모두 가능)
        • 140912 172756.jpg
      4. 20/04/20 CRT 9인치 모니터 내부를 고장에 대비해 관찰함.
        • eg2001x 003.jpg
    5. 프루빙 장면
      1. 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
        • 140512 153814.jpg
        • 140512 175648.jpg
      2. 14/06/25 1GHz 공진기 측정중
        • 140625 161014.jpg
      3. 16/09/11, 6인치 지멕 http://www.gmek.co.kr/ 마이크로히터 ,

        • 6인치 웨이퍼 로딩

        • 척 이물질 때문에 웨이퍼 깨짐. 이물 제거

        • 프루빙 준비

        • 프루빙

        • 6인치 웨이퍼 스캐닝

        • 좌표 .XY 입력

        • 사분면 각 다른 패턴-저항 측정

        • 4분면 저항

        • 각 분면 평균에 대한 %

      4. 20/04/19 문제없이 돌아감
  3. 압전 연구실 2017/04/20
    • eg2001x02 001.jpg
  4. Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
    1. 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
      1. 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
        • tokyo seimitsu01 001.jpg

        • EM-20, Semiconductor Tester

        • tokyo seimitsu01 003.jpg

        • A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine

      2. 좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
        • tokyo seimitsu01 002.jpg

        • EM-20A, Semiconductor Tester

  5. 포지셔너
    1. 10/05/27 인계동사무실에서
      • positioner01 001.jpg
    2. 15/08/17

      • ,

      • probe1 001.jpg
    3. 15/09/14
      • probe2 002.jpg
      • probe2 003.jpg
      • probe2 004.jpg
    4. 20/04/28 - 끝이 뭉툭한 직선 바늘
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      • probe2 006.jpg
    5. 20/05/20 - 0.2x0.2mm LED를 측정하기 위해서 뾰족한 구부러진 바늘 8개를 입수하여, 새롭게 장착함.
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      • probe2 008.jpg
  6. 간이 프루버

      • 16/02/05

      • 포지셔너 어댑터 추가를 위한 높이 측정

      • 빨강 도면 제작할 것.

      • 6인치 안 들어감. 현미경 문제없음.

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