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image:s442pa01_001_003.png | 오염품의 Rp는 뚜렷하게 낮아진다.
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image:s442pa02_001_001.jpg | 특정 영역이 오염된다.
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<li>오염 원인: 다이본딩 접착제가 경화되지 않았다.
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2022년 5월 27일 (금) 13:00 기준 최신판

SAW 패턴이 더러우면

  1. 전자부품
    1. SAW대문
      1. SAW기술
        1. SAW 패턴이 더러우면 - 이 페이지
  2. 400MHz RF SAW 필터
    1. 422MHz 에서
      1. 두 로트 간
        1. 잉크젯 마킹품과 레이저마킹품

          • 깨끗함. 잉크젯마킹된 7N로트

          • 더러움. 레이저마킹된 7N로트

        2. 두 샘플에서 삽입손실 차이는 약 1dB이다.
          • s422pa03 001 002.png
        3. 더럽기 때문에 손실이 크다는 증거는 아니다. (공정차이;막두께 또는 금속비 때문일 수도 있다.)
      2. (잉크젯 마킹된) 일부만 더러운 영역을 갖는 패턴은
        1. 더러운 패턴 사진
          • s422pa03 001 003.jpg
          • s422pa03 001 004.jpg
        2. 정상품(이라고 생각되는 제품)과 주파수 특성 그래프

          • 0.3MHz 저주파 제품이 더러운 제품이다.

        3. 삽입손실에 아무런 문제가 없다. 더러워지면 저주파로 이동되는 현상보다는 손실이 증가하는 것이 뚜렷하게 관찰되기 때문이다.
          1. 정상품 C: 2.903pF, 2.897pF
          2. 오염품 C: 2.976pF, 2.997pF
          3. 오염품의 C값이 약 3% 크다. 이는 금속비가 커서 0.07% 저주파로 이동된 것이다.
    2. 442MHz 에서
      1. 개요
        1. 위 422MHz 기종을 처음으로 분석한 후, 측정 데이터로 분석을 함.
        2. 주파수 특성을 측정하기 위한 프로그램 - e5071c01.bas
      2. peak,Fc 와 Cp/Rp 측정
        1. 측정 샘플 - 좌측이 (깨끗하게 조립된)잉크젯마킹품 20개, 우측이 (오염된)레이저마킹품 17개
          • s442pa01 001.jpg
        2. 상관 그래프

          • C가 증가하면 Fc는 낮아진다.

          • 오염품은 Peak가 많이 낮아졌다. (실선 화살표 제품을 분해함)

          • 오염품의 Rp는 뚜렷하게 낮아진다.

        3. 가장 Peak가 낮은 제품을 분해함.

          • 특정 영역이 오염된다.

          • s442pa02 001 002.jpg
          • s442pa02 001 003.jpg
      3. 오염 원인: 다이본딩 접착제가 경화되지 않았다.
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