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− | <li> | + | <li>칩크기 50x50um 이하를 말한다. 8K TV에 약 9900만개 필요하다. |
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+ | <li>어떤 칩이 문제가 생겨 저항갑이 5% 떨어진다고 한다. | ||
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− | image: | + | image:led_tester01_001.jpg | 2021/01/21 2.7$ 구입 |
− | image: | + | image:led_tester01_002.jpg | 내부 |
+ | image:led_tester01_003.jpg | miniature snap 단자를 꼽으면 [[9V 전지]]가 들어가지 않는다. | ||
+ | image:led_tester01_004.jpg | 옆구리를 잘라냄 | ||
+ | image:led_tester01_005.jpg | 꼽고 누르면 불이 켜진다. | ||
+ | image:led_tester01_006.jpg | LED 누르면 [[유기물기판]] 단면동박이 매우 쉽게 떨어져 끊어진다. 끊어져 위쪽 빨강전선을 덧붙였다. | ||
+ | image:led_tester01_007.jpg | 회로도, 마음대로 연결한 듯 | ||
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− | + | <li>측정 시간에 따른 Vf 차이 | |
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− | <li> | + | <li>어떤 red LED에서. 10uA~100mA까지 측정점 101 로그 스윕할 때, 각 측정 delay를 0초, 0.01초, 0.1초 둘 때 |
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− | <li> | + | <li>측정 엑셀 파일 - Keithley 2420 으로 측정 |
− | <li> | + | <li>그래프 - |
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− | image: | + | image:led_delay01_001.png |
+ | image:led_delay01_002.png | 고전류에서는 전류인가 후 측정 delay를 오래둘수록 칩이 뜨거워져 Vf가 올라간다. | ||
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− | <li> | + | </ol> |
+ | <li>time constant를 알아낼 수 있는가? | ||
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− | <li> | + | <li>LED 측정 때 전류인가 시간을 얼마나 짧게 해야 하는가? |
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− | <li> | + | <li>5ms~10ms 정도로 짧게 해야하는 이유 중 하나. |
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− | <li> | + | <li>다양한 측정 |
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+ | <li>직렬연결 때 vi 그래프 | ||
+ | <li>전류한계를 바꿔가면서 vi 그래프. | ||
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− | <li> | + | <li>고장 패턴을 쉽게 알 수 없다. |
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− | <li> | + | <li>DC 파워서플라이로 1A 정전류 인가. 0.3초에 쇼트로 |
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− | <li> | + | <li>고장 시점을 판단할 수 있다. 더 실험해서 보완할 것. 그리고 직렬연결해서 파악해볼 것. |
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+ | <li>과전류에서 와이어오픈 고장과 정션고장 두 가지 경우 | ||
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+ | <li>ITSWELL IWL-R5R35F-TNB, 5mm, RED, 30mA(피크100mA), 최고사용온도 80도 | ||
+ | <ol> | ||
<li>17/09/18 과전류에서 와이어오픈과 정션고장 두 가지 경우 | <li>17/09/18 과전류에서 와이어오픈과 정션고장 두 가지 경우 | ||
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<li>과전류에 의해 오픈될 때 | <li>과전류에 의해 오픈될 때 | ||
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− | image:led_lead05_028.png | + | image:led_lead05_028.png | 시간-Vf @0.25A. 시간이 경과할수록 뜨거워져 Vf가 낮아지면서 10초 후 고장난다. |
− | image:led_lead05_029.png | + | image:led_lead05_029.png | 고장시점에서 Vf 특성 발진 |
− | image:led_lead05_030.png | 뜨거워져 본딩 오픈이 | + | image:led_lead05_030.png | Vf 특성 발진의 원인으로, 뜨거워져 와이어본딩 본딩 오픈이 일어나는 것으로 추정 |
− | image:led_lead05_031.png | 오픈되어 C값이 측정되지 않는다. | + | image:led_lead05_031.png | [[다이오드 V-C 커브]]. 오픈되어 C값이 측정되지 않는다. |
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<li>과전류에 의해 본딩 오픈된 후, 시간이 지나 다시 붙은 경우 | <li>과전류에 의해 본딩 오픈된 후, 시간이 지나 다시 붙은 경우 | ||
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2024년 4월 24일 (수) 20:59 기준 최신판
LED
- 전자부품
- 조명
- 참조
- 기술
- lumem
- 빛에 관한 전력(watt)이다.
- 555nm 파장 빛 683루멘은 1W이다.
- 백열등 14루멘/W이므로 2% 광효율
- 텅스텐 할로겐등은 20
- 형광등은 50, compact 형광등은 60
- 고압나트륨등은 90
- 저압나트륨등(HID포함)은 150
- 고압수은등 50
- 금속 은 변색
- Chemical compatibility of LEDs, 오스람 자료 - 29p
- 멀티미터로 Vf 측정
- DMM R측정 때, 측정 범위에 따라 흐르는 정전류는 1000, 100, 10, 5, 0.5uA 나옴. (3458A만 10오옴 범위에서는 10mA)
- DMM R측정 때, 측정 범위에 따라 흐르는 정전류는 1000, 100, 10, 5, 0.5uA 나옴. (3458A만 10오옴 범위에서는 10mA)
- 고출력 LED 측정 조건
- 마이크로LED
- 칩크기 50x50um 이하를 말한다. 8K TV에 약 9900만개 필요하다.
- 칩 크기가 작아 웨이퍼 상태에서 검사하지 않는다. 재주껏 TV패널로 전사한 후 패널에서 불켜서 확인하고 수리한다.
- 직렬 연결 사용과 병렬 연결 사용
- 병렬 및 직렬
- 병렬연결 사용을 되도록 줄인다.
- (같은 밝기가 필요하다면) 직렬 사용을 늘린다.
- 모든 LED를 동일한 온도가 되도록 한다.
- 한 패키지에 여러 칩을 조립할 때, 그러므로, 직렬연결을 한다.
- 서로 온도가 다른 곳에서 길게 연결해서 사용할 때(string LED)는????
- 해석
- 회로도
- 가정
- 칩 하나에 3V가하면 100mA 흐른다. 그러면 저항값은 30Ω이다.
- 어떤 칩이 문제가 생겨 저항갑이 5% 떨어진다고 한다.
- 계산
- 문제의 칩이 있는 직렬연결(D29,30,31,32) 경로로는 100.95mA가 흐른다.
- 병렬연결에서 문제의 칩(D48)에는 103.90mA가 흐른다.
- 회로도
- 병렬 및 직렬
- lumem
- LED 측정
- 측정 시간에 따른 Vf 차이
- 어떤 red LED에서. 10uA~100mA까지 측정점 101 로그 스윕할 때, 각 측정 delay를 0초, 0.01초, 0.1초 둘 때
- 측정 엑셀 파일 - Keithley 2420 으로 측정
- 그래프 -
- time constant를 알아낼 수 있는가?
- LED 측정 때 전류인가 시간을 얼마나 짧게 해야 하는가?
- 5ms~10ms 정도로 짧게 해야하는 이유 중 하나.
- LED 측정 때 전류인가 시간을 얼마나 짧게 해야 하는가?
- 어떤 red LED에서. 10uA~100mA까지 측정점 101 로그 스윕할 때, 각 측정 delay를 0초, 0.01초, 0.1초 둘 때
- 다양한 측정
- 직렬연결 때 vi 그래프
- 전류한계를 바꿔가면서 vi 그래프.
- 고장 패턴을 쉽게 알 수 없다.
- DC 파워서플라이로 1A 정전류 인가. 0.3초에 쇼트로
- 고장 시점을 판단할 수 있다. 더 실험해서 보완할 것. 그리고 직렬연결해서 파악해볼 것.
- 과전류에서 와이어오픈 고장과 정션고장 두 가지 경우
- ITSWELL IWL-R5R35F-TNB, 5mm, RED, 30mA(피크100mA), 최고사용온도 80도
- 17/09/18 과전류에서 와이어오픈과 정션고장 두 가지 경우
- 시간에 따른 측정 및 DC bias에 따른 C 측정 엑셀 데이터
- 실험 그래프
- 과전류에 의해 오픈될 때
다이오드 V-C 커브. 오픈되어 C값이 측정되지 않는다.
- 과전류에 의해 본딩 오픈된 후, 시간이 지나 다시 붙은 경우
- 과전류에 의해 pn접합이 쇼트되는 경우 - 정상적인 LED의 불량 메커니즘
- 과전류에 의해 오픈될 때
- 17/09/18 과전류에서 와이어오픈과 정션고장 두 가지 경우
- ITSWELL IWL-R5R35F-TNB, 5mm, RED, 30mA(피크100mA), 최고사용온도 80도