2년, 155일, 3시간, 2분 - Togotech

"임펄스테스터"의 두 판 사이의 차이

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<li>Microtest Co., Ltd
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<li>임펄스 테스터(impulse tester, Impulse Winding Tester)
 
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<li>회사 홈 페이지 https://www.microtest.com.tw/
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<li>15/12/07
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<li>한국 대리점 http://www.se-an.co.kr/
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<li>측정기 제조회사
 
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<li>문의처 snchoi@se-an.co.kr
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<li>ECG-Kokusai http://www.ecginc.co.jp/english/
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<li>coil tester, discharge tester, inductor tester 계측기 제조회사
 +
<li>coil tester - Impulse Winding Tester DWX Series
 +
<ol>
 +
<li>데이터시트 - 4p
 +
<li>DWX-05  10u~100mH, 100MHz, 판정소요 200msec, 10kg
 +
<li>DWX-300LI2 0.1u~10mH, 200MHz, 정밀시험 3~300V 세팅, 측정 분해능 0.3V, 판정소요시간(디스플레이 off일때) 18msec, 18kg
 
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<li>Microtest TF-6815
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<li>Hioki, Impulse Winding Tester ST4030A
 
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<li>이력
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<li>데이터시트 - 12p
 +
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<li>Microtest https://www.microtest.com.tw/
 
<ol>
 
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<li>2020/12/17
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<li>2020년 공급모델
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<li>2021/01/05 입고
 
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<li>앞면
 
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image:tf6815_01_001.jpg | MICROTEST TF-6815 Impulse Winding Tester
 
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image:tf6815_01_002.jpg | H.V.  RETURN
 
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<li>뒷면
 
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image:tf6815_01_006.jpg | new type pat number 103986, S/N THHA8756
 
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image:tf6815_01_007.jpg | PC용 파워서플라이
 
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<li>내부 구조
 
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<li>디지털 회로 보드
 
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image:tf6815_01_010.jpg | M4A5-64 10VN, Lattice CPLD
 
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image:tf6815_01_011.jpg | DALLAS DS12C887 [[배터리+SRAM사용 RTC]]
 
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image:tf6815_01_012.jpg | DragonBall, MC68328PV16VA, 16.58MHz 2.7 MIPS
 
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<li>아날로그 보드
 
 
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<li>전체
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<li>7700: 2ch, 200~5000V, 50uH~
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<li>7703: 2ch, 100~5000V, 0.5uH~
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<li>7710: 2ch, 200~1000V, 100uH~
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<li>7713: 2ch, 200~10000V, 0.5uH~
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<li>마킹 지운 IC
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<li>7720: 8ch, 200~5000V, 50uH~
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<li>고압다이오드를 만들기 위한 직렬연결
 
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<li>승압회로
 
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image:tf6815_01_019.jpg | TDK CXA-L10A, CCFL inverter, 5V in 900V output
 
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<li>마킹을 지운 FET(?)
 
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<li>3개 사용한, [[고전압 릴레이]]
 
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image:tf6815_01_026.jpg | Dolam K-562H, 7.5kV switch voltage, 2A, coil parameter: 12V/180Ω
 
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<li> [[저항전압계수]] VCR 가 주요 규격인 [[고저항기]]
 
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image:tf6815_01_022.jpg | EBG FBX2/2 200K J, High Voltage Flat Style Resistor
 
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<li> [[고저항기]]
 
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image:tf6815_01_027.jpg | 절연저항을 높이기 위해 [[허공 PCB]]를 만들었다.
 
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image:tf6815_01_028.jpg | 200 x 10^5  = 20MΩ 1%
 
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<li>백플랜
 
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image:tf6815_01_030.jpg | LCD 백라이트 CCFL용 TDK CXA-L10A, CCFL inverter, 5V in 900V output
 
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image:tf6815_01_031.jpg | 테스트 포트
 
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<li>전면 패널
 
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<li>전면 패널 포트
 
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<li>형상
 
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image:tf6815_01_002.jpg | 적색: H.V. 포트, 흑색: RETURN 포트
 
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image:tf6815_01_033.jpg | 계측기 내부에서 본 측정 포트 배선
 
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<li>사용 커넥터 형태. [[방수 커넥터]]와 비슷하다. 맞춰보자.
 
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image:tf6815_01_034.jpg
 
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<li>아마 [[LEMO]] FGG 1B, 2-pin, quick release, push-pull Self-locking Plastic
 
 
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<li>기본 화면
 
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image:tf6815_01_036.jpg | MICROTEST, Winding Tester, TF-6815, Ver 2.02
 
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image:tf6815_01_037.jpg | TF-6815, Firmware Ver 2.02(5kV), 2007-09-05, Hardware Ver H6B
 
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image:tf6815_01_038.jpg
 
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<li>테스트-1 화면
 
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image:tf6815_01_040.jpg
 
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<li>테스트-2
 
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<li>초크인덕터인 [[토로이달L]]로 실험함. LCR미터에서 측정하면 Ls 94uH Rs 0.1ohm @1kHz, 1Vosc
 
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image:tf6815_01_042.jpg | 2kV 5회
 
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image:tf6815_01_043.jpg | 피막을 손상시켰다. 이런 손상으로는 LCR 미터 1Vosc 측정에서는 Ls값에 아무런 문제가 없다.
 
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<li>손상을 가하기 전과 후의 임펄스 파형
 
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image:tf6815_01_044.jpg | 손상가하기 전.
 
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image:tf6815_01_045.jpg | 피막 벗긴 제품은 파형이 단순해진다. 그리고 손상 부위를 접촉지점을 분리시키면 정상파형을 보인다.
 
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<li>트랜스포머에서 권선비가 낮은쪽을 인가하면, 권선비가 높은 반대측에 매우 높은 고전압이 나타나 불꽃방전이 일어나므로 트랜스포머가 고장난다.
 
 
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2022년 6월 20일 (월) 16:58 기준 최신판

임펄스 테스터

  1. 전자부품
    1. 계측기
      1. 분석기
        1. 임펄스테스터 - 이 페이지
          1. Microtest TF-6815
  2. 임펄스 테스터(impulse tester, Impulse Winding Tester)
    1. 15/12/07
    2. 측정기 제조회사
      1. ECG-Kokusai http://www.ecginc.co.jp/english/
        1. coil tester, discharge tester, inductor tester 계측기 제조회사
        2. coil tester - Impulse Winding Tester DWX Series
          1. 데이터시트 - 4p
          2. DWX-05 10u~100mH, 100MHz, 판정소요 200msec, 10kg
          3. DWX-300LI2 0.1u~10mH, 200MHz, 정밀시험 3~300V 세팅, 측정 분해능 0.3V, 판정소요시간(디스플레이 off일때) 18msec, 18kg
      2. Hioki, Impulse Winding Tester ST4030A
        1. 데이터시트 - 12p
      3. Microtest https://www.microtest.com.tw/
        1. 2020년 공급모델
          1. 7700: 2ch, 200~5000V, 50uH~
          2. 7703: 2ch, 100~5000V, 0.5uH~
          3. 7710: 2ch, 200~1000V, 100uH~
          4. 7713: 2ch, 200~10000V, 0.5uH~
          5. 7720: 8ch, 200~5000V, 50uH~
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