"프루버"의 두 판 사이의 차이
12번째 줄: | 12번째 줄: | ||
<li>메뉴얼 | <li>메뉴얼 | ||
<ol> | <ol> | ||
− | <li> | + | <li> |
− | <li> | + | <li> |
− | <li> | + | <li> |
<li>EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어 | <li>EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어 | ||
</ol> | </ol> | ||
25번째 줄: | 25번째 줄: | ||
<li>본체 GPIB 주소: 702 | <li>본체 GPIB 주소: 702 | ||
<li>기본 prober01.ibw [[prober01-ibw.txt]] | <li>기본 prober01.ibw [[prober01-ibw.txt]] | ||
+ | <li>칩 위치를 눈으로 보면서 조정하면서, 해당 위치를 추출하여 프루빙하는 방법 prober02.ibw [[prober03-ibw.txt]] | ||
+ | <li>주요 명령어 | ||
+ | <ol> | ||
+ | <li>?P 다이절대좌표출력(first die 기준으로) : XnYn (n=-999999~999999) | ||
+ | <li>?Z0 현재 척높이 : Zn (n=0~4000), 0.1단위이다. 그러므로 1/10해야 한다. | ||
+ | </ol> | ||
</ol> | </ol> | ||
<li>프루버 본체 등 | <li>프루버 본체 등 | ||
110번째 줄: | 116번째 줄: | ||
image:probe2_003.jpg | image:probe2_003.jpg | ||
image:probe2_004.jpg | image:probe2_004.jpg | ||
+ | </gallery> | ||
+ | <li>20/04/28 - 끝이 뭉툭한 직선 바늘 | ||
+ | <gallery> | ||
+ | image:probe2_005.jpg | ||
+ | image:probe2_006.jpg | ||
+ | </gallery> | ||
+ | <li>20/05/20 - 0.2x0.2mm LED를 측정하기 위해서 뾰족한 구부러진 바늘 8개를 입수하여, 새롭게 장착함. | ||
+ | <gallery> | ||
+ | image:probe2_007.jpg | ||
+ | image:probe2_008.jpg | ||
</gallery> | </gallery> | ||
</ol> | </ol> |
2020년 5월 21일 (목) 12:48 판
프루버
- 링크
- 투고기술 보유, EG2001X 프루버
- 메뉴얼
- EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어
- 분석 엑셀
- 반지름 특성 분석 엑셀 파일
- 동작 프로그램
- 본체 GPIB 주소: 702
- 기본 prober01.ibw prober01-ibw.txt
- 칩 위치를 눈으로 보면서 조정하면서, 해당 위치를 추출하여 프루빙하는 방법 prober02.ibw prober03-ibw.txt
- 주요 명령어
- ?P 다이절대좌표출력(first die 기준으로) : XnYn (n=-999999~999999)
- ?Z0 현재 척높이 : Zn (n=0~4000), 0.1단위이다. 그러므로 1/10해야 한다.
- 프루버 본체 등
- 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
- 14/05/13 기존 바퀴(하양)가 많이 손상당해, 대차 바퀴(빨강)로 교환함
- 14/09/12 김동현사장으로 선물받은, 척 베이스(진공, 자석 모두 가능)
- 20/04/20 CRT 9인치 모니터 내부를 고장에 대비해 관찰함.
- 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
- 프루빙 장면
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 14/06/25 1GHz 공진기 측정중
- 16/09/11, 6인치 지멕 http://www.gmek.co.kr/ 마이크로히터 ,
- 20/04/19 문제없이 돌아감
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 메뉴얼
- 압전 연구실 2017/04/20
- Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 포지셔너
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 15/08/17
- 15/09/14
- 20/04/28 - 끝이 뭉툭한 직선 바늘
- 20/05/20 - 0.2x0.2mm LED를 측정하기 위해서 뾰족한 구부러진 바늘 8개를 입수하여, 새롭게 장착함.
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 간이 프루버