"프루버"의 두 판 사이의 차이
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<li>?T :theta 위치. Tn으로 응답한다. n은 현재 각도 위치 -7603~7603. | <li>?T :theta 위치. Tn으로 응답한다. n은 현재 각도 위치 -7603~7603. | ||
<li>?Z0 현재 척높이 : Zn (n=0~4000), 0.1단위이다. 그러므로 1/10해야 한다. | <li>?Z0 현재 척높이 : Zn (n=0~4000), 0.1단위이다. 그러므로 1/10해야 한다. | ||
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2020년 6월 9일 (화) 09:34 판
프루버
- 링크
- 투고기술 보유, EG2001X 프루버
- 메뉴얼
- EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어
- - 244p
- 보유 3권
- 2020/06/04 촬영
- Mechanical Interface Reference Drawing
- Reference Drawing, Vol.1
- Reference Drawing, Vol.2
- 2020/06/04 촬영
- 수식
- 3점 원의 방정식 circle-ibw.txt
- 이동 좌표발생 프로그램 xy-ibw.txt
- 분석 엑셀
- 반지름 특성 분석 엑셀 파일
- 동작 프로그램
- 본체 GPIB 주소: 402 (연결된 CAT2 PC에 꼽힌 GPIB 보드는 400번이므로. 반면에 일반적으로 700번이다.)
- 프로그램 소스
- 파일로 입력하는 XY좌표대로 특성값을 측정 prober01-ibw.txt
- 파일로 입력하는 XY좌표대로 특성값을 측정 + 2420 소스미터 추가 prober02-ibw.txt
- 칩 위치를 눈으로 보면서 조정하면서, 해당 위치를 추출하여 프루빙하는 방법 prober03-ibw.txt
- 다이 단위로 움직이면서, 특성값이 나올 때까지 8방향 이동. prober04-ibw.txt
- Message Completion(MC)와 failure(MF) 응답
- X-Y 이동 및 Z 이동이 끝날 때마다 이 메시지를 출력한다. 그러므로 반드시 이 메시지를 받아야 한다.
- X-Y 이동에 관한 명령어는 FM, GF, HO, MD, MF, MM, MO, MP
- Z 이동 명령어는 MT, ZD, ZM, ZR, ZU
- 주요 action 명령어
- FMXxYx :x,y는 -32768~32768 범위. 다이 내에서 절대 마이크로 좌표단위로 이동
- HO :홈 위치로 이동. 척 Z높이를 200으로 낮추고, forcer를 platen 우하 코너로 이동시킴
- MF :First die로 이동
- FD :현재 위치를 First die로 지정함.
- LA0, LA1 :조명장치 ON/OFF
- MO :절대 다이 스텝으로 이동, MOXnYn (n=-999999~999999)
- MDXnYn :상대(first 다이 기준으로) 다이 스텝
- MM :현재 위치에서 상대적인 기계 스텝으로 이동, MMXnYn (n=-999999~999999) 1이면 2.5um
- MAXnYn :forcer를 platen 면적에 해당하는 절대위치로 이동
- MTn :현재 각도에서 theta 상대 이동 (n=-7603~7604 모터스텝)
- PA :프루빙 임시정지(Z down)/계속(pause/continue) PA 한 번에 정지, 다음 수행 때 계속. 키보드에 있는 PAUSE/CONT와 동일
- SA :현재 프로세스를 멈추고 버저 울림. PAUSE 키 누르면 버저 종료, 다시 누르면 프로세스 수행
- ZU 및 ZD :척 업 및 다운, ZM :지정 높이로 Z 이동
- ZMn :Z를 지정된 높이까지 이동. n=2000~Z Up limit까지. 2000이면 200mil이다. 기계마다 Z 스테이즈 분해능에 의존함. 1/2, 1, 1/4, 1/8min 중 하나임.
- ZRn :Z를 현재높이에서 상대적인 위치로 이동. n=-2000~2000 음수는 낮춘다.
- VAn :척 진공 n=0/1 on/off
- 주요 query 명령어
- ?A0 :Hot chuck 온도. AT123.4 는 123.4섭씨
- ?A1 :지정 온도. AS111 111도로 세팅됨.
- ?F :마이크로 위치좌료. XnYnSn X,Y는 1um 단위
- ?H :절대 모터 위치. HXxYy x,y는 -999999~999999 1단위는 2.54um단위 기계좌표단위. platen 우하단코너(항구지점)가 0,0이다.
- ?I :First 다이위치, 웨이퍼 중심위치, 웨이퍼 직경. IXx1Yy1Xx2Yy2Dd 로 출력됨.
- ?P :다이절대좌표출력(first die 기준으로) : XnYn (n=-999999~999999)
- ?T :theta 위치. Tn으로 응답한다. n은 현재 각도 위치 -7603~7603.
- ?Z0 현재 척높이 : Zn (n=0~4000), 0.1단위이다. 그러므로 1/10해야 한다.
- ?A0 :Hot chuck 온도. AT123.4 는 123.4섭씨
- 주변 유틸리티
- 100V 트랜스포머
- 220V로 결선을 바꿔서 사용할 수 있을 것 같은데... 현재 100V를 사용하고 있다.(??? - 정확히 확인 필요)
- 진공펌프
- DA-60D 진공펌프를 사용하고 있다.
- 공기압축펌프
- 냉동식 수분 제거기
- 필터(main filter + mist separator)
- 100V 트랜스포머
- 프루버 본체 등
- Platen Base Assembly 도면 - 11p
- 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
- ring carrier - 주황색 판을 말한다.
- Chuck - hot 척이다.
- 6인치(=150mm) 척 표면
- 콘트롤러 모델: THERMO CONTROLLER TC-2000
- 접지와 연결
- 척 높이는 항상 mil(인치 단위)로 화면에 표시된다.
- 높이 정밀도 측정
- 2020/06/07 접촉식 마이크로미터로 측정하니
- 2020/06/07 접촉식 마이크로미터로 측정하니
- 수평 측정
- 개요
- 2020/06/06 레이저변위 거리계가 반복성 20um이므로, 정밀하지 않지만...
- 측정 사진
- 진공구멍이 있는 척 상태로
- 150mm 실리콘 웨이퍼 뒷면(거울 앞면은 레이저로 측정안됨)을 측정하니, 이 센서에서 멀수록 +값이 커지므로, 1시 방향은 대각선에 비해 약 ~50um 낮다.
- 측정 사진
- 2020/06/07 접촉식 마이크로미터로 측정하니, 1시 방향이 대각선 방향보다 약 ~30um 낮다.
- 2020/06/07 수평교정
- 개요
- hot chuck 분해
- 2020/06/07 첫 분해
- 2020/06/07 첫 분해
- 6인치(=150mm) 척 표면
- 링(ring)
- "프루브 카드 홀더". 2020/06/07 사용하지 않기 때문에 뜯어서 프루버 뒤에 보관함.
- 14/09/12 김동현사장으로 선물받은, 척 베이스(진공, 자석 모두 가능) 링
- "프루브 카드 홀더". 2020/06/07 사용하지 않기 때문에 뜯어서 프루버 뒤에 보관함.
- 모니터
- 20/04/20 CRT 9인치 모니터 내부를 고장에 대비해 관찰함.
- 20/04/20 CRT 9인치 모니터 내부를 고장에 대비해 관찰함.
- 바퀴 관련
- 14/05/13 기존 바퀴(하양)가 많이 손상당해, 대차 바퀴(빨강)로 교환함
- 20/05/26 바퀴 방향을 돌림
- 캐스터의 wheel lock 철판이 앞으로 돌출되어 있어, 발등을 찍음.
- 가구용 lift 레버로는 들어올릴 수 없어, 긴 지렛대로 들어올려 조정함.
- 캐스터의 wheel lock 철판이 앞으로 돌출되어 있어, 발등을 찍음.
- 14/05/13 기존 바퀴(하양)가 많이 손상당해, 대차 바퀴(빨강)로 교환함
- Platen Base Assembly 도면 - 11p
- 프루빙 장면
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 14/06/25 1GHz 공진기 측정중
- 16/09/11, 6인치 지멕 http://www.gmek.co.kr/ 마이크로히터 ,
- 20/04/19 문제없이 돌아감
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 웨이퍼 막 저항 측정
- 웨이퍼
- 202/05/24 2.5um씩 밖으로 시계방향으로 퍼지면서 측정
- 202/05/24
- 웨이퍼
- 메뉴얼
- 압전 연구실 2017/04/20
- Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 포지셔너
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 15/08/17
- 15/09/14
- 20/04/28 - 끝이 뭉툭한 직선 바늘
- 20/05/20 - 0.2x0.2mm LED를 측정하기 위해서 뾰족한 구부러진 바늘 8개를 입수하여, 새롭게 장착함.
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 간이 프루버