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| − | image:6inch01_002.jpg|척 이물질 때문에 웨이퍼 깨짐. 이물 제거 | + | image:6inch01_002.jpg | 척 이물질 때문에 웨이퍼 깨짐. 이물 제거 |
| − | image:6inch01_003.jpg|프루빙 준비 | + | image:6inch01_003.jpg | 프루빙 준비 |
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| − | image:6inch01_005.jpg|6인치 웨이퍼 스캐닝 | + | image:6inch01_005.jpg | 6인치 웨이퍼 스캐닝 |
| − | image:6inch01_006.jpg|좌표 .XY 입력 | + | image:6inch01_006.jpg | 좌표 .XY 입력 |
| − | image:6inch01_007.jpg|사분면 각 다른 패턴-저항 측정 | + | image:6inch01_007.jpg | 사분면 각 다른 패턴-저항 측정 |
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| − | image:prober2_002_1.jpg|빨강 도면 제작할 것. | + | image:prober2_002_1.jpg | 빨강 도면 제작할 것. |
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2019년 7월 2일 (화) 16:38 판
프루버
- 투고기술 보유, EG2001X 프루버
- 프루버 본체 등
- 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
- 14/05/13 대차 바퀴로 교환함
- 14/09/12 김동현사장으로 선물받은, 척 베이스(진공, 자석 모두 가능)
- 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
- 프루빙 장면
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 14/06/25 1GHz 공진기 측정중
- 16/09/11, 6인치 지멕 http://www.gmek.co.kr/ 마이크로히터 ,
6인치 웨이퍼 로딩
척 이물질 때문에 웨이퍼 깨짐. 이물 제거
프루빙 준비
프루빙
6인치 웨이퍼 스캐닝
좌표 .XY 입력
사분면 각 다른 패턴-저항 측정
4분면 저항
각 분면 평균에 대한 %
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 프루버 본체 등
- 압전 연구실 2017/04/20
- Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
EM-20, Semiconductor Tester
A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
EM-20A, Semiconductor Tester
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 포지셔너
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 15/08/17
,
- 15/09/14
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 간이 프루버
16/02/05
포지셔너 어댑터 추가를 위한 높이 측정
빨강 도면 제작할 것.
6인치 안 들어감. 현미경 문제없음.
