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2020년 4월 20일 (월) 20:30 판
프루버
- 링크
- 투고기술 보유, EG2001X 프루버
- 메뉴얼
- Tek사에서 작성한, GPIB 통신을 위한 세팅방법 - 6p
- 어느 대학 연구실에서 작성한, 사용방법 - 13p
- 명령어 요약 - 14p
- EG4085X 프루버 매뉴얼(254523-001 REV G) - 747p, 306p 8장에 명령어
- 분석 엑셀
- 반지름 특성 분석 엑셀 파일
- 동작 프로그램
- 본체 GPIB 주소: 702
- 기본 prober01.ibw prober01-ibw.txt
- 프루버 본체 등
- 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
- 14/05/13 기존 바퀴(하양)가 많이 손상당해, 대차 바퀴(빨강)로 교환함
- 14/09/12 김동현사장으로 선물받은, 척 베이스(진공, 자석 모두 가능)
- 20/04/20 CRT 9인치 모니터 내부를 고장에 대비해 관찰함.
- 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
- 프루빙 장면
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 14/06/25 1GHz 공진기 측정중
- 16/09/11, 6인치 지멕 http://www.gmek.co.kr/ 마이크로히터 ,
- 20/04/19 문제없이 돌아감
- 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
- 메뉴얼
- 압전 연구실 2017/04/20
- Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
- 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
- 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
- 포지셔너
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 15/08/17
- 15/09/14
- 10/05/27 인계동사무실에서
- 간이 프루버