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2025년 1월 9일 (목) 13:53 기준 최신판
Advantest R6243 소스미터 측정에서 발진 문제
- 전자부품
- 알람 항목에 OSC 가 있다.
- Oscillation detection 이 될 때, 표시창에 OSC가 나타나고 알람 울린다.
- 측정에서 Oscillation 현상
- DUT에서 발진이 일어나거나, 계측기 자체에서 일어날 수 있다.
- 계측기 자체 발진 주파수는 2MHz를 넘지 않는다.
- 발진이 일어나는 이유
- 전압 소스, 전류 측정에서는 capacitive load에서 일어난다.
- 전류 소스, 전압 측정에서는 inductive load에서 일어난다.
- 발진이 발생되면 측정이 안된다. 발진 원인을 제거하려면
- 설명
- 사양에 표시된 최대 부하 용량 및 최대 부하 인덕턴스 내에 있는지 확인하십시오.
- 가장 짧은 테스트 리드선을 사용하여 발진을 확인한다.
- 가장 짧은 테스트 리드선을 사용한 측정임에도 불구하고 발진이 일어나면, 매뉴얼의 그림 4-4처럼, 테스트 리드선 때문에 발생되는 부유 용량 및 리드 인덕턴스를 줄인다.
- 그림 4-4
- 부유용량 및 누설전류를 줄이기 위해 driving guard 단자를 사용한다.
- 테스트 리드선이 갖는 인덕턴스를 줄이기 위해서
- 테스트 리드선으로 동축 케이블을 사용하는 경우에 인덕턴스를 줄이기 위해서
- 부유용량 및 누설전류를 줄이기 위해 driving guard 단자를 사용한다.
- 그림 4-5, DUT 발진 방지법
- 고이득 Tr 및 높은 transconductance(gm) FET 게이트를 갖는 DUT에서 자주 발진이 발생된다.
- 페라이트 비드를 삽입한다.
- Tr의 베이스 및 FET의 게이트에 삽입하는 것이 효과적이다.
- 누설을 줄이기 위해서는 페라이트 비드가 어디에 닿으면 안된다.(허공에 띄운다.)
- 고주파용 GaAs FET인 경우에는
- 게이드 소스와 드레인 소스의 접지라인을 분리한다.
- 게이트와 드레인에 각각 바이페스 C와 페라이트 비드를 삽입한다. 그러면 고주파 성분이 전원 소스로 넘어가지 않는다.
- 게이트와 드레인에 매칭 저항을 넣고, lambda/4 길이를 갖는 패턴을 삽입하여 매칭한다.
- 그림
- 고이득 Tr 및 높은 transconductance(gm) FET 게이트를 갖는 DUT에서 자주 발진이 발생된다.
- 그림 4-6, 계측기 자체 발진 방지법
- 가장 짧은 테스트 리드선을 사용한 측정임에도 불구하고 발진이 일어나면, 아래 그림처럼 허용할 수 있는 값을 갖는 저항을 직렬로 삽입한다.
- 가장 짧은 테스트 리드선을 사용한 측정임에도 불구하고 발진이 일어나면, 아래 그림처럼 허용할 수 있는 값을 갖는 저항을 직렬로 삽입한다.
- 설명
- DUT에서 발진이 일어나거나, 계측기 자체에서 일어날 수 있다.
- 2024/01/09
- 네온등을 i-v 커브를 그려보면
- 소스 전류가 1uA 이상 흐르면 계측기에서 oscillation 현상이 검출되어 측정이 중단된다.
- 측정 그래프
- 측정 방법이 전류 소스이므로, 발진의 이유가 인덕티브 로드 때문이다. 그러므로 전압 소스로 변경해서 측정해보자.
- 안되면 테스트 리드를 매우 짧게하여 측정해보자.
- 네온등을 i-v 커브를 그려보면