Impedance Standard Substrate;ISS
Impedance Standard Substrate;ISS
- 전자부품
- 주로, FormFactor 회사 https://www.formfactor.com/ 공급하는 제품을 말한다.
- 이 회사는 2016년에 Cascade Microtech 회사를 인수했다.
- Probes - VNA Calibration Tools - Substrates 에는 3가지가 있다.
- Impedance Standard Substrates
- GSG, 100~250um 피치, 101-190
- CSR Cal Substrates
- |Z| Probe, CSR-8, GSG, 100~250um 피치
- Multiline TRL Cal Substrates
- ISS Map 172-887, (Multi-line TRL Substrate, WR3.4, WR4.3, WR5.1), 75~100um 피치
- Impedance Standard Substrates
- ISS 101-190, 67GHz까지 사용가능하다.
- 데이터 시트에서
- 전체
- SOLT 패턴
- Thru 패턴에 프루브 팁 접촉 자국이 있는 이유. 양쪽 프루브 팁 접촉이 정상적으로 이루어졌는지 확인용으로 이렇게 접촉할 수 있다. (어차피 거의 사용하지 않는 패턴이므로)
프루브 팁을 thru 전극 중간에 찍으면 마이크로스트립 필터의 stub 가 추가되므로 cal.하면 안된다.
- 수명 - (사용경험이 없기 때문에 추측으로 생각)
- 금속이 밀려 형성되는 마이크로스트립 필터가 되는 stub 문제
- ISS에 형성된 (금)전극이 프루브 팁에 의해 기계적으로 밀리면서 물리적으로 길이가 길어지는 stub(스텁;그루터기)가 발생될 때 문제가 될 것이다.
- 늘어난 stub 길이가 high frequency에 영향을 주는데, 사용주파수 5GHz 미만에서는 거의 영향을 주지 않을 것이다.
- stub가 없는 깨끗한 패턴과 서로 비교하여 판단하면 될 것이다.
- 접촉저항문제
- 같은 자리를 찍으면 접촉저항은 높아진다. short 패턴에만 영향을 줄 것이다.
- 금도금이므로 산화에 의한 접촉저항 상승은 없을 것이고, 프루브 팁이 금표면에 산화막이 있더라도 파괴하여 아무런 문제가 없을 것이다.
- 판정 소프트웨어가 최대 67GHz 기준이 아니라, 고객 사용주파수 별로 존재할 것이다.
- 금속이 밀려 형성되는 마이크로스트립 필터가 되는 stub 문제
- calibration integrity(교정 무결성) 판정
- ISS 내에는 여러 개의 SOLT가 있기 때문에, 이 모든 SOLT 군을 잘못 만들지 않는 이상 서로 비교하면 무결성을 판단할 수 있다.
- 어느 한 SOLT 세트로 cal.한 후, 다른 SOLT를 판정하면 된다.
- Thru 문제
- 사용자 패턴은 (프루브 팁 피치에 맞춰 설계할 수밖에 없다.) 길이가 다를 것이다. 이 때는 Thru가 문제가 된다.
- Thru는 그럼 cal.에서 isolation 교정은 생략한다.
- 사용자 패턴에 맞는 electrical length만 추가하여 phase 매칭만 하면 될 것이다.
- 단위 길이당 손실은 ISS가 제공하는 기다란 thru 패턴을 측정해서 이를 원하는 길이에 해당하는 손실로 보정하면 될 것이다.
- 이를 못 믿는다면, 결국 사용자 패턴에 맞는 thru를 직접 만들어서, 이 home made Thru로 교정하면 된다.
- ISS를 반드시 접지금속에 올려놓고 사용해야 하는가? 평면 전송라인으로 분석함.
- 치수측정
- 해석
- 결론 - 이 ISS는 금속척을 갖는 프루버에서 항상 사용하므로, 반드시 기판 뒷면은 접지 금속과 닿아야 한다.
- 치수측정
- 데이터 시트에서