전해C 측정
전해C 측정
- 전자부품
- 측정
- YHP LCR-4260A Universal Bridge에서, 1971년도 제조품으로 추정되는 전해C
- 가장 큰 C에서 사용되는, wheel chock(바퀴 고임목)
- 모두 분리해서
- LCR미터로 전기적 특성 측정 엑셀 파일
- 가장 D값이 커진 문제의 제품과 같은 용량의 신제품과 비교
- 두 개 비교 사진
- 편차가 가장 큰 제품 주파수 특성 측정 데이터
- 문제 제품 분해
- 두 개 비교 사진
- 리드에 빨강 페인트를 바른 제품 분해
- 가장 큰 C에서 사용되는, wheel chock(바퀴 고임목)
- 1983년도 제조품으로 추정되는 전해C
- Panasonic VP-7750A Wow Flutter 미터
- 사진
- 측정 엑셀 파일 10uF~1000uF까지 38개
- 상관관계 그래프
- ec meas02 001.png
38개 큰 문제가 없지만
- ec meas02 002.png
10V 47uF 4개 모두 -40% 감소
- ec meas02 003.png
D 값이 커, 문제 제품이 많다.
- 사진
- Panasonic VP-7750A Wow Flutter 미터
- 1986년도 전해C 25개를 2020년도에 측정하니
- Kikusui AVM13 decibel meter에서
- 측정 엑셀 파일 1uF~1000uF까지 25개
- 상관관계 그래프
- Kikusui AVM13 decibel meter에서
- 임피던스가 낮은, 대용량 전해C 측정을 위해서는
- 테스트 픽스쳐 문제
- Effective Electrolytic Capacitors Testing - 4p
- 충전된 콘덴서가 단자에 인가되어도 방전에 견디어야 한다.
- SMPS 동작주파수(20kHz)에서 측정할 수 있어야 한다.
- 쇼트회로 측정 후, 회로가 빨리 회복되어야 한다.
- 사진
- Effective Electrolytic Capacitors Testing - 4p
- 테스트 픽스쳐 문제
- HP 3400 RMS Voltmeter에서
- 주로 사용되는 것 중에서 하나 뜯어서 측정함.
- 주파수 특성 엑셀 데이터
- 주로 사용되는 것 중에서 하나 뜯어서 측정함.
- 누액으로 용량이 부족해 전원 품질이 안좋을 때
- 누액품 측정
- Tektronix TDS540에서, 전해C는 단일기종만 약 80개를 사용하는데 모두
- 전해C
- 측정, 주파수 특성 엑셀 데이터
- 전세계에서 이 오실로스코프에서 동일한 현상으로 자료가 많음. 켜지나 파형에 리플이 심함
- 전해C
- Tektronix TDS540에서, 전해C는 단일기종만 약 80개를 사용하는데 모두
- 과전류로 내부 단자가 오픈
- SMPS-PC, LG LP350, LC-B350ATX에서
- 외관
- 주파수 특성 엑셀 데이터
- 깡통외관 및 무게 측정
- 분해하여 고장 부위 관찰
- 200V 내압제품에 300V가 가해져, 쇼트가 발생되면서 전류가 집중되는 인출 단자가 녹아 끊어져 오픈됨.
- 외관
- SMPS-PC, LG LP350, LC-B350ATX에서
- 아주 싸게 만든 제품인 유선전화기에서
- YHP LCR-4260A Universal Bridge에서, 1971년도 제조품으로 추정되는 전해C