프루버

투고기술 보유, EG2001X 프루버
1. 프루버 본체 등
  1. 14/05/02 투고사무실에 정위치로 이동한 프루버
  2. 14/05/13 대차 바퀴로 교환함
  3. 14/09/12 김동현사장으로 선물받은, 척 베이스(진공, 자석 모두 가능)
2. 프루빙 장면
  1. 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
  2. 14/06/25 1GHz 공진기 측정중
  3. 16/09/11, 6인치 지멕 http://www.gmek.co.kr/ 마이크로히터 ,
    - 6인치 웨이퍼 로딩
    - 척 이물질 때문에 웨이퍼 깨짐. 이물 제거
    - 프루빙 준비
    - 프루빙
    - 6인치 웨이퍼 스캐닝
    - 좌표 .XY 입력
    - 사분면 각 다른 패턴-저항 측정
    - 4분면 저항
    - 각 분면 평균에 대한 %
압전 연구실 2017/04/20
Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
1. 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
  1. 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
    - EM-20, Semiconductor Tester
    - A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
  2. 좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
    - EM-20A, Semiconductor Tester
포지셔너
1. 10/05/27 인계동사무실에서
2. 15/08/17
  - ,
3. 15/09/14
간이 프루버
1. - 16/02/05
  - 포지셔너 어댑터 추가를 위한 높이 측정
  - 빨강 도면 제작할 것.
  - 6인치 안 들어감. 현미경 문제없음.