"Cu 볼 와이어본딩"의 두 판 사이의 차이
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+ | <li>Cu 와이어표면에 산화방지를 위한 Pd 코팅을 한다. | ||
+ | <li>EFO(Electronic Flame Off) 스파크로 형성된 볼은 Cu+Pd합금이 되는데 단단하다. | ||
+ | <li>볼이 Au 볼에 비해 단단하여 실리콘 칩쪽 [[와이어본딩 패드]]에 충격이 크다. | ||
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+ | <li>튼튼한 [[와이어본딩 패드]]를 갖는 다이에만 적용한다. | ||
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+ | <li>2013.10 출시 애플 [[iPhone 5S]] 스마트폰에서 | ||
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+ | <li> [[모바일AP]], Apple A7 , 위에 올라가 있는 [[DRAM]] Elpida 8Gbit DDR3 | ||
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+ | image:iphone5s01_130_012.jpg | 와이어를 찾을 수 없었기 때문에 [[Cu 볼 와이어본딩]]으로 추정함. | ||
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<li> [[다이오드]] | <li> [[다이오드]] |
2023년 1월 9일 (월) 11:26 기준 최신판
Cu 볼 와이어본딩
- 전자부품
- 연결
- 와이어본딩
- Cu 볼 와이어본딩 - 이 페이지
- 와이어본딩
- 연결
- 기술정보
- 2013.10 출시 애플 iPhone 5S 스마트폰에서
- 모바일AP, Apple A7 , 위에 올라가 있는 DRAM Elpida 8Gbit DDR3
와이어를 찾을 수 없었기 때문에 Cu 볼 와이어본딩으로 추정함.
- 모바일AP, Apple A7 , 위에 올라가 있는 DRAM Elpida 8Gbit DDR3
- 다이오드
- 2020 삼성 갤럭시 A51 SM-A516N 휴대폰에서
은도금(?)된 Cu 볼 와이어본딩
- 2020 삼성 갤럭시 A51 SM-A516N 휴대폰에서