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+ | <li>포트1,2,3,4용 스위치 3개 위치 및 분석 | ||
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+ | image:e5071c01_006_001.jpg | 내부 회로도 | ||
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+ | <li>아무것도 연결하지 않고 반사 특성 측정 | ||
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+ | <li>포트1,2,3,4에 아무것도 연결하지 않고, S11, S22, S33, S44 특성 측정 | ||
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+ | image:e5071c01_port04_003.png | 이득 | ||
+ | image:e5071c01_port04_004.png | 위상 | ||
+ | image:e5071c01_port04_005.png | 지연. 모두 약 40ps 나온다. | ||
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+ | <li>기계적 내부 구조로 볼 때, 4개 포트의 길이가 다름에도 불구하고, 모두 동일한 delay가 나오는 것으로 보아, 각 포트 기준으로 공장에서 계측기 캘리브레이션이 해서, 캘리브레이션 데이터 기준면을 저장했다. | ||
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+ | <li>포트1은 Short, 포트2는 open, 포트3은 Load, 포트4는 adapter 연결하고 반사 특성 | ||
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+ | <li>점검 방법 사진 | ||
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+ | <li>그래프 | ||
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+ | image:e5071c01_port04_006.png | 위상: S11(short)와 S22(open)간 위상차이는 약 180도 차이난다. | ||
+ | image:e5071c01_port04_007.png | 지연: Short 캘키트를 꼽아도 변화되지 않았기 때문에 지연시간은 0이다. 어댑터 지연은 (260-40)ps이다. | ||
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+ | <li>Short, Open, Load 연결하여 | ||
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+ | <li>점검 방법 | ||
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+ | <li>포트 및 캘 키트 | ||
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image:e5071c01_port01_000.jpg | termination(load)와 short가 필요하다. (반드시 termination이 필요하다.) | image:e5071c01_port01_000.jpg | termination(load)와 short가 필요하다. (반드시 termination이 필요하다.) | ||
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<li>설명 | <li>설명 | ||
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− | <li>반드시 | + | <li>반드시 [[기계식 동축 캘리브레이션 키트]]가 필요하다.(상대개념은 [[E-Cal]]이다.) |
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<li>왜냐면, E-Cal은 각 고유제품별로 제조공장에서 측정한 데이터를 [[Flash Memory]]에 넣어 관리한다. | <li>왜냐면, E-Cal은 각 고유제품별로 제조공장에서 측정한 데이터를 [[Flash Memory]]에 넣어 관리한다. | ||
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<li>수동 calibration kit는 내부에 반도체 회로가 없는 수동부품으로만 이루어졌기 때문에 분해하지 않는 한, 거의 고장나지 않는다. | <li>수동 calibration kit는 내부에 반도체 회로가 없는 수동부품으로만 이루어졌기 때문에 분해하지 않는 한, 거의 고장나지 않는다. | ||
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− | <li>terminator: 쇠막대 속에 잘만든 50Ω 저항기 하나 넣었다. | + | <li>terminator: 쇠막대 속에 잘만든 50Ω 저항기 하나 넣었다. delay가 있다. |
− | <li>short: 중심도체와 외부실드접지가 서로 연결되어 합선된 쇠덩어리. | + | <li>short: 중심도체와 외부실드접지가 서로 연결되어 합선된 쇠덩어리. delay 및 기생L이 존재한다. |
− | <li>open: 중심도체와 외부실드접지가 전혀 만나지 않는 빈 깡통. | + | <li>open: 중심도체와 외부실드접지가 전혀 만나지 않는 빈 깡통. delay 및 기생C가 존재한다. |
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+ | <li>아래에 기술된 측정은정상적인 Open 캘리브레이션 키트를 연결하지 않았고, 선택된 캘 키트도 다른 모델이므로 수정이 필요하다. | ||
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<li>반사 이득 측정 | <li>반사 이득 측정 | ||
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image:e5071c01_port01_002.png | '''낮을수록 좋다. -25dB 이하를 갖는 반사이득이 측정된다. 이보다 높은 값을 보이면 계측기 내부에 문제가 있다.''' | image:e5071c01_port01_002.png | '''낮을수록 좋다. -25dB 이하를 갖는 반사이득이 측정된다. 이보다 높은 값을 보이면 계측기 내부에 문제가 있다.''' | ||
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+ | <li>E5071C 내부구조를 볼 때 4포트의 반사특성을 측정하면, RF스위치 3개의 고장 여부를 파악할 수 있다. | ||
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<li>반사 특성을 스미스차트 R+jX로 나타냄 | <li>반사 특성을 스미스차트 R+jX로 나타냄 | ||
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<li>포트 점검만을 위해, 편하게 port extentions OFF 상태(계측기를 껏다가 켠, 초기상태 그대로)에서 검사해도 된다. | <li>포트 점검만을 위해, 편하게 port extentions OFF 상태(계측기를 껏다가 켠, 초기상태 그대로)에서 검사해도 된다. | ||
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+ | <li>이 계측기에서 포트 고장의 예 | ||
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+ | <li>2016/11/25, 포트 1,3번 고장, 50오옴 load 연결했을 때 반사이득이 -25dB 이하이어야 하는데, -10dB 이상 나왔기 때문에 명백히 고장났다. | ||
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+ | image:e5071c01_006.jpg | 포트 1,3번 고장났다. 수리했다. | ||
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2024년 6월 27일 (목) 15:46 기준 최신판
E5071C 포트매칭점검
- 전자부품
- 계측기
- 네트워크분석기
- E5071C 네트워크분석기
- E5071C 유지보수
- E5071C 포트매칭점검 - 이 페이지
- E5071C 유지보수
- 참조
- E5071C 네트워크분석기
- 네트워크분석기
- 계측기
- 포트 구조
- 아무것도 연결하지 않고 반사 특성 측정
- 포트1,2,3,4에 아무것도 연결하지 않고, S11, S22, S33, S44 특성 측정
- 측정 그래프
- 의견
- 기계적 내부 구조로 볼 때, 4개 포트의 길이가 다름에도 불구하고, 모두 동일한 delay가 나오는 것으로 보아, 각 포트 기준으로 공장에서 계측기 캘리브레이션이 해서, 캘리브레이션 데이터 기준면을 저장했다.
- 포트1은 Short, 포트2는 open, 포트3은 Load, 포트4는 adapter 연결하고 반사 특성
- 점검 방법 사진
- 그래프
- 점검 방법 사진
- Short, Open, Load 연결하여
- 점검 방법
- 포트 및 캘 키트
- 설명
- 반드시 기계식 동축 캘리브레이션 키트가 필요하다.(상대개념은 E-Cal이다.)
- 왜냐면, E-Cal은 각 고유제품별로 제조공장에서 측정한 데이터를 Flash Memory에 넣어 관리한다.
- 그러므로 커넥터에 문제(휘거나 흔들리거나, 깨지거나)가 발생되거나 정전기에 의해 파괴되어도 메모리에 기억된 값만을 참조하므로 잘못된 캘리브레이션이 수행되기 때문이다.
- 네트워크 분석기는 calibration kit를 기준으로 계산하므로 calibration kit가 하나라면, 전체 측정 시스템에 문제가 있는지 알 수 없다.
- 그러므로 반드시 여분의 golden calibration kit(어쩌다 한 번씩 사용하는 매우 신중하게 보관되고 다루어지는)로 점검하여야 한다.
- 수동 calibration kit는 내부에 반도체 회로가 없는 수동부품으로만 이루어졌기 때문에 분해하지 않는 한, 거의 고장나지 않는다.
- terminator: 쇠막대 속에 잘만든 50Ω 저항기 하나 넣었다. delay가 있다.
- short: 중심도체와 외부실드접지가 서로 연결되어 합선된 쇠덩어리. delay 및 기생L이 존재한다.
- open: 중심도체와 외부실드접지가 전혀 만나지 않는 빈 깡통. delay 및 기생C가 존재한다.
- 반드시 기계식 동축 캘리브레이션 키트가 필요하다.(상대개념은 E-Cal이다.)
- 아래에 기술된 측정은정상적인 Open 캘리브레이션 키트를 연결하지 않았고, 선택된 캘 키트도 다른 모델이므로 수정이 필요하다.
- 포트 및 캘 키트
- 반사 이득 측정
- 4개 포트에 아무것도 연결하지 않고(open 상태) 반사이득을 측정하면
- 4개 포트에 각각 타입N 커넥터, HP 909F 00909-60009(m) 50오옴 load를 연결하고 반사이득을 측정하면. - 이 방법이 각 포트 고장 여부를 판단하기는데 기초가 된다.
- E5071C 내부구조를 볼 때 4포트의 반사특성을 측정하면, RF스위치 3개의 고장 여부를 파악할 수 있다.
- 4개 포트에 아무것도 연결하지 않고(open 상태) 반사이득을 측정하면
- 반사 특성을 스미스차트 R+jX로 나타냄
- 4개 포트에 50오옴 load를 연결하고 측정하면, 측정된 그래프는 스미스챠트 한 가운데(50Ω+j0Ω)로 모인다.
- 4개 포트를 open 상태로 측정하면.
- 그래프
- 설명
- 오직 port extentions ON 만 수행하여도 스미스챠트 오른쪽 한 점(임피던스Z > 10kΩ)으로 그래프가 모인다.
- 그래프
- 4개 포트를 short 상태로 측정하면.
- 그래프
- 설명
- 오직 port extentions ON 만 수행하여도 스미스챠트 왼쪽 한 점(임피던스Z ~0Ω)으로 그래프가 모인다.
- 그래프
- 포트 점검만을 위해, 편하게 port extentions OFF 상태(계측기를 껏다가 켠, 초기상태 그대로)에서 검사해도 된다.
- 4개 포트에 50오옴 load를 연결하고 측정하면, 측정된 그래프는 스미스챠트 한 가운데(50Ω+j0Ω)로 모인다.
- 점검 방법
- 이 계측기에서 포트 고장의 예
- 2016/11/25, 포트 1,3번 고장, 50오옴 load 연결했을 때 반사이득이 -25dB 이하이어야 하는데, -10dB 이상 나왔기 때문에 명백히 고장났다.
- 2016/11/25, 포트 1,3번 고장, 50오옴 load 연결했을 때 반사이득이 -25dB 이하이어야 하는데, -10dB 이상 나왔기 때문에 명백히 고장났다.