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<li>2007년 2월, 프로브카드 제조기술 동향 - 9p
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<li>2010년 11월, 프로브 카드 기술시장 동향 분석, 한국과학기술정보연구원 - 51p
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<li>프루브 카드 청소
 
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<li>PCB
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<li>Probe Card Clean (PCC)
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<ol>Probe Polish, Probe Lap, LCxK, Probe Form, Probe Vertical, Probe Clean, Probe Scrub, Probe Refresh, Fiber Film, Assembly Clean
<li>Core
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<li>Contact Bump
 
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<li>중급품 - 어느 회사A
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<li>프루브 카드용 기판
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<li>저금품 - Yulim
 
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<li>캔틸레버 - DC 측정용
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<li>프루브 바늘(probe needle)
 
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<li>바늘
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<li> [[캔틸레버 프루브카드]]용
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image:renion141210_002.jpg | 원자재
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<li>Advanced Probing Systems 홈 페이지
image:renion141210_005.jpg | 원하는 길이, 각도로 구부린다.
 
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<li>RF 흉내 멀티 스위칭
 
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<li>RF 흉내 LCR칩
 
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<li>LED
 
 
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<li>어느 모델 A
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<li>바늘 재료별 접촉저항 비교 - 5p
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<li>Tungsten-rhenium 바늘 소개-1
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<li>이 회사 바늘 정보 - 3p
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<li>TPH용 - http://www.adnt.co.kr/ 제작
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<li>한국, 2024년 인터넷 홈 페이지 기준
 
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<li>IC용
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<li>새한마이크로텍 , 경기도 남양주시 진접읍
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<li>기판용
 
 
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<li>외관
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<li>회사소개서
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<li>이레세미텍 , 경기도 부천시 원미구
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<li>2014/05/06 인터넷에서 조사한 내용을 정리함
<li>위면 - 커넥터면
+
<li>프루브 팁과 골드 패드 사이의 접촉저항 분석 - 25p
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<li>아래면 - 기판 접촉면
 
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<li>바늘 연결 납땜
 
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<li>바늘 끝
 
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<li>SST용
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<li>바늘 자국
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<ol>
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<li> [[주변광 조도센서]]
 +
<ol>
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<li>2013년 11월 출시 노트북, [[Gigabyte P34]]
 
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image:tph_sst01_001.jpg
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image:gigabyte_p34_141.jpg | [[프루브카드]] 바늘자국
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<li>VBPC(Vertical Bending Probe Card)
+
<li>메모리카드 수리용,
 
<ol>
 
<ol>
<li>계측기쪽 연결 단자
+
<li>2020/12/10 구입품
 +
<ol>
 +
<li> [[van der Pauw]] 면저항 측정용으로 구입함.
 
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image:vertical_bending_probe_card1_007.jpg
+
image:probe_tool01_001.jpg | memory card repair probe tool
image:vertical_bending_probe_card1_008.jpg
+
image:probe_tool01_002.jpg | JOYWES MC005, Design by Forrest
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+
image:probe_tool01_003.jpg
 +
image:probe_tool01_004.jpg
 +
image:probe_tool01_005.jpg | 바늘이 교차할 때 쇼트를 예방하는 절연튜브
 +
image:probe_tool01_006.jpg | 커넥터를 연결해야 한다.
 
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<li>접촉 단자
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<li>PCB 설계에서 오류가 한 군데 있다.
 
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image:vertical_bending_probe_card1_018.jpg | 약 2도 기우려짐
+
image:probe_tool01_007.jpg
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</gallery>
 
<li>바늘과 구리선 연결 방법
 
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image:vertical_bending_probe_card1_032.jpg
 
image:vertical_bending_probe_card1_032_1.jpg | 구리선을 몰딩하고 연마하고 도금함
 
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<li>바늘
 
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image:vertical_bending_probe_card1_038.jpg
 
image:vertical_bending_probe_card1_041.jpg | 페인트칠
 
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<li>바늘 브라켓 가공
 
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</ol>
 
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</ol>
 
<li>DLC = Direct Line Contact
 
<li>DLC = Direct Line Contact

2024년 12월 13일 (금) 13:46 기준 최신판

프루브카드

  1. 전자부품
    1. 프루버 , RF측정
      1. 프루브카드 - 이 페이지
        1. 기술
          1. 캔틸레버 프루브카드
          2. 프루브카드 기판
        2. 용도에 따라
          1. 메모리 검사용 프루브카드
          2. PCB 검사용 프루브카드
          3. RF용 프루브카드
        3. 제조회사별
          1. AccuProbe
          2. Cascade
      2. 프루브카드 비공개
    2. 참조
      1. 와이어본딩 패드
      2. 포고핀
    3. 참조
      1. 로직분석기 프루브
      2. 오실로스코프 프루브
      3. RF용 액티브프루브
  2. 기술자료
    1. 위키페디아 Probe card https://en.wikipedia.org/wiki/Probe_card
      1. overtravel: 수직이동 거리
      2. skate: 프루브가 표면에 닿은 후(touchdown), 이동하는 수평거리
    2. 자료
      1. Probe Card Tutorial
        1. Keithley 회사 - 40p
        2. Probe Metrology Panel Discussion, Freescale - 77p
      2. 논문, 기사, 투고 등
        1. 2007년 2월, 프로브카드 제조기술 동향 - 9p
        2. 2010년 11월, 프로브 카드 기술시장 동향 분석, 한국과학기술정보연구원 - 51p
    3. 프루브 카드 청소
      1. Entegris
        1. Probe Card Clean (PCC)
            Probe Polish, Probe Lap, LCxK, Probe Form, Probe Vertical, Probe Clean, Probe Scrub, Probe Refresh, Fiber Film, Assembly Clean
    4. 프루브 카드용 기판
    5. 프루브 바늘(probe needle)
      1. 캔틸레버 프루브카드
        1. Advanced Probing Systems 홈 페이지
          1. 바늘 재료별 접촉저항 비교 - 5p
          2. Tungsten-rhenium 바늘 소개-1
          3. 이 회사 바늘 정보 - 3p
        2. 한국, 2024년 인터넷 홈 페이지 기준
          1. 새한마이크로텍 , 경기도 남양주시 진접읍
            1. 회사소개서
          2. 이레세미텍 , 경기도 부천시 원미구
        3. 2014/05/06 인터넷에서 조사한 내용을 정리함
        4. 프루브 팁과 골드 패드 사이의 접촉저항 분석 - 25p
  3. 바늘 자국
    1. 주변광 조도센서
      1. 2013년 11월 출시 노트북, Gigabyte P34
  4. 메모리카드 수리용,
    1. 2020/12/10 구입품
      1. van der Pauw 면저항 측정용으로 구입함.
      2. PCB 설계에서 오류가 한 군데 있다.
  5. DLC = Direct Line Contact