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+ | <li>skate: 프루브가 표면에 닿은 후(touchdown), 이동하는 수평거리 | ||
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+ | <li>Probe Card Tutorial | ||
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+ | <li>Keithley 회사 - 40p | ||
+ | <li>Probe Metrology Panel Discussion, Freescale - 77p | ||
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+ | <li>프루브 카드 청소 | ||
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+ | <li>Probe Card Clean (PCC) | ||
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+ | <li>프루브 팁 | ||
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+ | <li>Advanced Probing Systems 홈 페이지 | ||
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+ | <li>바늘 재료별 접촉저항 비교 - 5p | ||
+ | <li>이 회사 바늘 정보 - 3p | ||
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+ | <li>2014/05/06 인터넷에서 조사한 내용을 정리함 | ||
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+ | <li>높이 검출용 센서, wafer edge sensor, 프루브 터치다운(touchdown)을 검출해서 Z-높이를 결정할 때 사용한다. | ||
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2024년 7월 10일 (수) 09:23 판
프루브카드
- 전자부품
- 기술자료
- 위키페디아 Probe card https://en.wikipedia.org/wiki/Probe_card
- overtravel: 수직이동 거리
- skate: 프루브가 표면에 닿은 후(touchdown), 이동하는 수평거리
- Probe Card Tutorial
- Keithley 회사 - 40p
- Probe Metrology Panel Discussion, Freescale - 77p
- 프루브 카드 청소
- Entegris
- Probe Card Clean (PCC)
- Probe Polish, Probe Lap, LCxK, Probe Form, Probe Vertical, Probe Clean, Probe Scrub, Probe Refresh, Fiber Film, Assembly Clean
- Probe Card Clean (PCC)
- Entegris
- 프루브 팁
- Advanced Probing Systems 홈 페이지
- 바늘 재료별 접촉저항 비교 - 5p
- 이 회사 바늘 정보 - 3p
- 2014/05/06 인터넷에서 조사한 내용을 정리함
- 프루브 팁과 골드 패드 사이의 접촉저항 분석 - 25p
- Advanced Probing Systems 홈 페이지
- 위키페디아 Probe card https://en.wikipedia.org/wiki/Probe_card
- 바늘 자국
- 주변광 조도센서
- 2013년 11월 출시 노트북, Gigabyte P34
프루브카드 바늘자국
- 2013년 11월 출시 노트북, Gigabyte P34
- 주변광 조도센서
- 반도체용
- 기념품 2014/11/05 최인철
- 기념품 2014/11/05 최인철
- 메모리카드 수리용,
- 2020/12/10 구입품
- van der Pauw 면저항 측정용으로 구입함.
- PCB 설계에서 오류가 한 군데 있다.
- van der Pauw 면저항 측정용으로 구입함.
- 2020/12/10 구입품
- RF용
- 고급품 - 어느 모델 A
- PCB
- Core
- Contact Bump
- PCB
- 중급품 - 어느 회사A
- 저금품 - Yulim
- 고급품 - 어느 모델 A
- 캔틸레버 - DC 측정용
- 바늘
- RF 흉내 멀티 스위칭
- RF 흉내 LCR칩
- LED
- 어느 모델 A
- 어느 모델 A
- TPH용 - http://www.adnt.co.kr/ 제작
- IC용
- 기판용
- 외관
- 위면 - 커넥터면
- 아래면 - 기판 접촉면
- 바늘 연결 납땜
- 바늘 끝
- 외관
- step stress test(SST) probe card
- 외관
- 테스트 바늘 형태
- 높이 검출용 센서, wafer edge sensor, 프루브 터치다운(touchdown)을 검출해서 Z-높이를 결정할 때 사용한다.
- 외관
- IC용
- 바늘
- VBPC(Vertical Bending Probe Card)
- 계측기쪽 연결 단자
- 접촉 단자
- 바늘과 구리선 연결 방법
- 바늘
- 바늘 브라켓 가공
- 계측기쪽 연결 단자
- DLC = Direct Line Contact