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2024년 12월 20일 (금) 10:44 기준 최신판
분해능 향상 기술;RET
- 전자부품
- 포토마스크
- 분해능 향상 기술;RET - 이 페이지
- 포토마스크
- OAI; Off-Axis Illumination
- 빛을 경사지게 입사시키는 방법이다. 원형조리개를 4개구멍조리개(quadruple)로 교체한다.
- NA와 DOF 모두 개선할 수 있다.
- OPC; Optical Proximity Correction Mask 광 근접 보정 마스크
- 위키페디아 Optical proximity correction https://en.wikipedia.org/wiki/Optical_proximity_correction
- 소프트웨어 제공업체: mentor, synopsys, Brion
- 관련자료
- SLM=Spatial Light Modulator - 73p
- SAW 필터에서 논문
- 관련 기술을 제공하는 회사
- 포트로닉스(Photronics) https://www.photronics.com/
- 제조방법
- (주로) 전자빔 노광(electron beam lithography;EBL) 장치로 패터닝을 한다. 레이저는 해상도가 낮기 때문에 저렴하다.
- 가는 선을 위해 CAR(chemically amplified resist;화학증폭형 레지스트)이 발라진 레지스트를 사용한다.
- CAR은 DUV 파장인 KrF 및 ArF 노광기에 적용되는 포토레지스트이다.
- CAR 역시 EBL에 적용된다.
- 제조방법
- 시높시스
- 2023/12/13 Theelec 기사
- 머신러닝(machine learning;ML) 모델을 적용하여 계산한다.
- 역사
- 1990년 중반 처음으로 도입.
- 초기에는 룰 테이블에 변수를 입력하는 방식(rule based segment correction), 모델 베이스 기반(model based segment correction), 인버스 리소그래프 테크닉(inverse lithography technique;ILT) 방식이 사용됨.
- 모델베이스는 수학적 모델을 사용하고, ILT 방식은 픽셀로 세분화한 후 토폴로지를 변경하는 방법이다.
- ML 방식은 사전 트레이닝이 필요하지만, 빠르게 계산한다.
- 2020년 기준으로 10nm 공정 1mm x 1mm 레이아웃이 필요한 칩을 만드는 마스크 1장당 5일 걸리는 작업이다.
- 이를 ML으로 수행하면 1일 걸린다.
- 2023/12/13 Theelec 기사
- 포트로닉스(Photronics) https://www.photronics.com/
- 위키페디아 Optical proximity correction https://en.wikipedia.org/wiki/Optical_proximity_correction
- PSM; Phase-Shift Masks 위상 변이 마스크
- 위키페디아 Phase-shift mask https://en.wikipedia.org/wiki/Phase-shift_mask
- 해상도를 높이고, 초점심도를 확장시킬 수 있다.
- 관련 기술을 제공하는 회사
- 포트로닉스(Photronics) https://www.photronics.com/
- extreme ultraviolet(EUV)용 포토마스크를 위해서
- KrF 및 ArF 노광을 위해서는 embedded attenuated phase-shift masks(EAPSM) 기술을 적용한 마스크를 사용한다.
- 6% 투과율을 갖는 MoSiON absorber를 적용하여 180도 위상변이를 발생시킨다.
- 제조방법
- 전자빔 또는 레이저로 상단 크롬층을 식각한다.
- ICP 식각공정으로 크롬층 아래에 MoSiON 패턴을 생성시킨다.
- 다시 레지스트를 코팅한 후, 레이저 패터닝 도구로 2차 노광을 하여 위상 변이 패턴을 정의한다.
- extreme ultraviolet(EUV)용 포토마스크를 위해서
- 포트로닉스(Photronics) https://www.photronics.com/
- 위키페디아 Phase-shift mask https://en.wikipedia.org/wiki/Phase-shift_mask