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2022년 11월 27일 (일) 00:03 기준 최신판
ESD 손상
- 전자부품
- 산업용
- 참조
- 정전기에 의한 파괴
- RF스위치IC, TC742
thru되는 쪽 패턴에 정전기 파괴 흔적이 관찰된다.(항상 ON되는 듯)
- 2012 삼성 갤럭시 S3 SHV-E210K
- 2014.07 제조 LG-F460S LG G3 Cat.6 스마트폰
- Tx SAW 다이 - 불에 태워서 PCB와 분리함
시간당 온도차이가 커져 ESD 손상
- Tx SAW 다이 - 불에 태워서 PCB와 분리함
- 2015 LG-F570S LG Band Play 에서
정전기 파괴 패턴
- 2016.01 출시 삼성 SM-A710S 갤럭시 A7 LTE 스마트폰
- H876BA3 MP3 WJL
- HG56BA0 MP9 KRF KYH
- HG60CC0 MP3 WJL
ESD 손상 - 두 DMS 전극 사이
- H876BA3 MP3 WJL
- SAW-핸드폰DPX
- 2007.07 제조품 Motorola MS500 피처폰에서
- 2007.07 제조품 Motorola MS500 피처폰에서
- RF스위치IC, TC742
- 정전기로 추정
- CMC CMCS0511B SPDT RF 스위치
큰 RF 전력(또는 인체 정전기(추정))으로 금속이 끊어졌다.
- CMC CMCS0511B SPDT RF 스위치