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− | <li>육각형 | + | <li>육각형(hexagon), 직선으로 자를 수 없다. 그러므로 레이저 다이싱 또는 플라즈마 에칭(plasma etching)으로 다이싱해야 한다. |
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<li>LED칩 | <li>LED칩 | ||
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image:led_module01_007.jpg | 한변 길이가 1.2mm | image:led_module01_007.jpg | 한변 길이가 1.2mm | ||
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+ | <li> [[다이오드]] | ||
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+ | <li> [[산타페 발전기]]에서 발견 | ||
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<li>half-cut 다이싱 후 | <li>half-cut 다이싱 후 | ||
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+ | <li>2012 삼성 갤럭시 S3 [[SHV-E210K]] | ||
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+ | <li> [[SAW-핸드폰DPX]]에서 | ||
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+ | image:shv_e210k_060_010.jpg | V-shaped dicing blade로 bevel half cut 한 후 다음에 full cut한다. | ||
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+ | <li>step cut: 두꺼운 블레이드로 1차 자르고, 가는 블레이드로 완전히 자르는 방법을 말한다. | ||
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+ | <li>half-cut 후 부러뜨렸다. | ||
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+ | <li> [[TR6878]] DMM 정밀저항기에서 | ||
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+ | image:tr6878_026_003.jpg | [[다이싱]]은 half-cut | ||
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<li>LTCC 몰딩품에서 | <li>LTCC 몰딩품에서 | ||
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image:z8m01_092.jpg | image:z8m01_092.jpg | ||
image:z8m01_093.jpg | LTCC [[다이싱]] 방법 | image:z8m01_093.jpg | LTCC [[다이싱]] 방법 | ||
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+ | <li>2015 [[LG-F570S]] LG Band Play 에서 | ||
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+ | image:lg_f570s_037_001.jpg | 양면 half 다이싱 | ||
+ | image:lg_f570s_037_002.jpg | 잘리지 않은 에폭시층을 부러뜨렸다. | ||
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image:tr_metal03_004.jpg | image:tr_metal03_004.jpg | ||
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+ | <li>인텔 8085 [[MCU]], 1985년 제조품에서. 당시 full dicing은 어려운 기술이었다.(?) | ||
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+ | image:intel8085_01_001.jpg | 60% 깊이로 블레이드 휠 다이싱 후 부러뜨렸다. | ||
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+ | image:intel8085_01_003.jpg | ||
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− | <li>반도체 다이싱 | + | <li>반도체 웨이퍼 다이싱 |
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<li>레이저 기술 | <li>레이저 기술 | ||
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<li>회전 블레이드 | <li>회전 블레이드 | ||
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− | <li>CIS #1 - 회전 다이아몬드 휠로 절단 | + | <li>CIS #1 - 회전 [[다이아몬드]] 휠로 절단 |
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image:cis03_018.jpg | image:cis03_018.jpg | ||
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image:hipass_rf02_047.jpg | 다이싱 때 1ch 컷 | image:hipass_rf02_047.jpg | 다이싱 때 1ch 컷 | ||
image:hipass_rf02_048.jpg | 다이싱 때 90도 돌려 자른 ch2 컷 | image:hipass_rf02_048.jpg | 다이싱 때 90도 돌려 자른 ch2 컷 | ||
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+ | <li>2012 삼성 갤럭시 S3 [[SHV-E210K]] 핸드폰에서 | ||
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+ | <li> [[핸드폰에서 발견한 대기압 센서]] | ||
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+ | image:shv_e210k_080.jpg | 웨이퍼 두께를 얇게하지 않았다. 90도 돌려 두 번째 다이싱을 하면 이런 줄무늬가 나타난다. | ||
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image:saw1411_01_003.jpg | 두께 5% 매우 빠르게, 두께 60% 천전히, 그리고 뒤집어서 다시. 총 4번 다이싱한 것처럼 보이지만, 한 번만 다이싱해도 이렇다.(?????) | image:saw1411_01_003.jpg | 두께 5% 매우 빠르게, 두께 60% 천전히, 그리고 뒤집어서 다시. 총 4번 다이싱한 것처럼 보이지만, 한 번만 다이싱해도 이렇다.(?????) | ||
image:saw1411_01_004.jpg | 4번 다이싱 때문에, 뒷면 칩핑이 매우 적음 | image:saw1411_01_004.jpg | 4번 다이싱 때문에, 뒷면 칩핑이 매우 적음 | ||
+ | </gallery> | ||
+ | <li>2008년 1월 제조된 [[LG-SH170]] 슬라이드 피처폰 | ||
+ | <ol> | ||
+ | <li>무라타 SAW UMTS 2100(Tx 1920-1980, Rx 2110-2170) DPX, 3.2x2.5mm LTCC 구리전극 캐비티, 2칩, 플립본딩, AuSn 실링 | ||
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+ | image:sh170_063.jpg | 한쪽면 | ||
+ | image:sh170_064.jpg | 같은 칩에서 그 반대 한쪽면 | ||
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image:saw_if_tv_sipm01_005.jpg | image:saw_if_tv_sipm01_005.jpg | ||
image:saw_tech01_001.jpg | [[SAW기술]]에서 | image:saw_tech01_001.jpg | [[SAW기술]]에서 | ||
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+ | <li>기타 | ||
+ | <ol> | ||
+ | <li>초콜릿 [[과자]]에서, Kiru Kezuru Migaku (절단 연삭 연마) | ||
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+ | image:151104_173634.jpg | 2015/11/04일, 디스코 Disco에서 받은 선물인데, 투고기술 방문자로부터 받음 | ||
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2022년 8월 11일 (목) 16:35 판
다이싱 dicing
- 링크
- 기계장치에서
- 스핀들, 회전 밸런스가 무너짐
- 절단된 가루가 구배없는 배수관에 쌓이면
- 스핀들, 회전 밸런스가 무너짐
- 다이싱 모양
- 삼각형
-
- 평행사변형을 자른 삼각형
- MSC가 있는, high out-of-band rejection in surface acoustic wave (SAW) filters,
- MSC가 있는, high out-of-band rejection in surface acoustic wave (SAW) filters,
- 매우 긴 직각사각형 - 그냥 직사각형, 정사각형은 가장 널리 사용되므로 첨부 생략
- CIS - 스캐너용 contact image sensor
- DDI - 능동LCD용 Display Driver
- CIS - 스캐너용 contact image sensor
- 평행사변형(parallelogram)
- TV용 IF SAW필터
- TV용 IF SAW필터
- 육각형(hexagon), 직선으로 자를 수 없다. 그러므로 레이저 다이싱 또는 플라즈마 에칭(plasma etching)으로 다이싱해야 한다.
- 삼각형
- 금속 다이싱
- 얇은 구리판(PCB용 도금 동박 등)
- 도금 CSP 쏘필터
- 도금 CSP 쏘필터
- 리드프레임
- 얇은 구리판(PCB용 도금 동박 등)
- 스크라이빙 후 부러뜨림
- 쏘필터, 매우 긴 칩 - 러시아?
- 쏘필터, 매우 긴 칩 - 러시아?
- half-cut 다이싱 후
- Bevel cut
- 2012 삼성 갤럭시 S3 SHV-E210K
- step cut: 두꺼운 블레이드로 1차 자르고, 가는 블레이드로 완전히 자르는 방법을 말한다.
- half-cut 후 부러뜨렸다.
- LTCC 몰딩품에서
- 실리콘 웨이퍼
- Bevel cut
- 반도체 웨이퍼 다이싱
- 레이저 기술
- 용어 stealth dicing, ultrashort pulsed(USP)
- 유리(soda lime glass)
- - 10p
- 기술
- 장점: high speed cutting, no chipping, dust-free, zero-kerf, no chemicals
- 스텔스 다이싱 단점: 절단면에 큰 거칠기 존재, 완전히 분리하는 개별화 작업을 위해 기계적인 충격이 필요함.
- 완전한 절단(Full ablation cutting) - 작업속도가 느리다. 측벽이 매우 거칠다. 많은 먼지가 발생된다.
- 제어된 파괴전파(Controlled fracture propagation) - 시작지점을 기계적으로 긁고, 이후 레이저로 가열하여 균열 발생하는 기법(절단면이 매끄럽다. 곡선이 안된다. 경로가 부정확하다. 열을 받는다.)
- 레이저 촛점을 이룬 공간에 웨이퍼 재료가 깨져 개질층(빈공간) 형성해야 한다.
- 레이저 촛점은 레이저 진행 방향에 따라 원형, 진행방향 타원, 진행에 수직방향 타원 등을 만들 수 있다.
- 개질층이 웨이퍼 두께에 따라 1~5회 형성해야 하므로, 촛점 깊이를 정확히 맞출 수 있어야 한다.
- 웨이퍼 표면 높이를 레이저 센서로 미리 측정하여 촛점을 맞춘다.
- 레이저가 나오는 렌즈는 NA값이 큰 대구경을 사용하여 촛점 깊이(DOF)를 낮게 형성시킨다.
- 빈공간이 작아야 정교하게 개질층이 형성된다. 생산성 때문에 펄스 주파수(Q-rate)가 높아야 한다.
- 레이저 빔 직경이 기존대비 1/10이면 Q-Rate는 x10 이어야 절삭속도가 동일해진다.
- 실리콘 웨이퍼
- 쏘필터용 웨이퍼
- 무라타, 1.4x1.1mm
- 2008년 1월 제조된 LG-SH170 슬라이드 피처폰
- 무라타 SAW UMTS 2100(Tx 1920-1980, Rx 2110-2170) DPX, 3.2x2.5mm LTCC 구리전극 캐비티, 2칩, 플립본딩, AuSn 실링
- 무라타 SAW UMTS 2100(Tx 1920-1980, Rx 2110-2170) DPX, 3.2x2.5mm LTCC 구리전극 캐비티, 2칩, 플립본딩, AuSn 실링
- 무라타, 1.4x1.1mm
- 레이저 기술
- 절삭속도 추정
- K3953D에서, 30krpm이라면, 60um 수평간격이면 절삭속도는 30mm/sec.
- K3953D에서, 30krpm이라면, 60um 수평간격이면 절삭속도는 30mm/sec.
- 뒷면 그루빙(도랑 파기)
- K3953D에서 - 다이싱(칩두께 500um) 및 뒷면 그루빙(간격 330um, 깊이 110um, 폭 55um)
- 벌크파동을 제거하기 위한, 뒷면 grooving 및 Ag 에폭시 다이 접착제
SAW기술에서
- K3953D에서 - 다이싱(칩두께 500um) 및 뒷면 그루빙(간격 330um, 깊이 110um, 폭 55um)
- 기타
- 초콜릿 과자에서, Kiru Kezuru Migaku (절단 연삭 연마)
- 초콜릿 과자에서, Kiru Kezuru Migaku (절단 연삭 연마)