"NV-SRAM"의 두 판 사이의 차이
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image:tds540_06_004_004.jpg | Dallas DS1210S Nonvolatile Controller Chip, Hitachi HM628128LFP 128Kbyte SRAM, CR1632 +3V | image:tds540_06_004_004.jpg | Dallas DS1210S Nonvolatile Controller Chip, Hitachi HM628128LFP 128Kbyte SRAM, CR1632 +3V | ||
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+ | <li> [[HP 54602B]] 오실로스코프에서, 여기 배터리를 살려야 계측기를 정상적으로 사용할 수 있다. | ||
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+ | <li>1호기 | ||
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+ | <li>수정전 | ||
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image:54602b01_009.jpg | 밑면보드 | image:54602b01_009.jpg | 밑면보드 | ||
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+ | <li>배터리가, 마킹기준으로 오른쪽에 있다는 사실을 알고 파내기 시작 | ||
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+ | image:54602b01_034_001.jpg | ||
+ | image:54602b01_034_002.jpg | 케이스는 딱딱하지만 내부는 비교적 파 내기 쉬운 말랑말랑 고무계 수지이다. | ||
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+ | <li>배터리 발견 | ||
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+ | image:54602b01_034_003.jpg | ||
+ | image:54602b01_034_004.jpg | -극 용접단자를 세게 들어올려 밑바닥에서 접합이 떨어졌다. 더 파내야 했다. | ||
+ | image:54602b01_034_005.jpg | 뽑힌 -극 용접단자 | ||
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+ | <li>배터리 뽑아내고, 외부 단자를 뽑기 위해 계속 작업 | ||
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+ | image:54602b01_034_006.jpg | 접합단자까지 파내려갔다. | ||
+ | image:54602b01_034_007.jpg | ||
+ | image:54602b01_034_008.jpg | [[1차-BR]] 전지를 뽑아냄. Rayovac BR1225 USA | ||
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+ | <li>외부에서 CR2032를 넣기 위해 전지 홀더를 부착함. | ||
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+ | image:54602b01_034_009.jpg | ||
+ | </gallery> | ||
+ | <li>다음번에 패키지 오른쪽 측면만 파내어 전지 연결선을 찾는 것이 편할 듯 | ||
+ | <li>전원을 켤 때, 오류 메시지 나오지 않고, self calibration 실시 후 정상적인 측정값을 보인다. | ||
+ | </ol> | ||
+ | <li>2호기 | ||
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+ | image:54602b02_012.jpg | 원래 | ||
+ | image:54602b02_013.jpg | 전지 연결부위까지 수지 몰딩을 깍아냄 | ||
+ | image:54602b02_014.jpg | 전지 소켓을 연결. 가는 전선으로 연결해야 납땜 부위에 힘을 받지 않는다. | ||
+ | image:54602b02_015.jpg | CR2032 를 끼워넣음 | ||
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<li> HP [[54620A]] Logic Analyzer | <li> HP [[54620A]] Logic Analyzer | ||
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image:hp65620a01_016.jpg | image:hp65620a01_016.jpg | ||
+ | </gallery> | ||
+ | <li> [[HP 54620C 로직분석기]] | ||
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+ | image:hp54620c01_002_001.jpg | ||
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− | <li>Xicor X2212D, 256x4bit [[NV-SRAM]] | + | <li> [[자이코]] Xicor X2212D, 256x4bit [[NV-SRAM]] |
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<li>데이터시트 , EEPROM과 SRAM을 동시에 만들어 데이터를 교환하여 비휘발성 기능을 발휘. | <li>데이터시트 , EEPROM과 SRAM을 동시에 만들어 데이터를 교환하여 비휘발성 기능을 발휘. | ||
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2024년 2월 9일 (금) 21:12 기준 최신판
NV-SRAM
- 전자부품
- NonVolatile SRAM 콘트롤러로 구분함.
- 기술
- HP 계측기(오실로스코프 등)에서, cal 데이터를 저장한다.
- 자료
- FAQ - 7p
- 외부에서 배터리 전압을 측정하지 못한다. 대부분 그렇게 만들었다.
- Flash Memory는 쓰기에 오래 걸린다.
- Flash 메모리는 쓰기 횟수에 제한이 있다. 그러나 SRAM은 무제한 쓰기가 가능하다.
- Flash 메모리는 블록단위로 쓸 수 있다. 반면에 SRAM은 개별 바이트로 읽기 쓰기가 가능하다.
- FAQ - 7p
- 기술
- Dallas Semiconductor
- DS1210S
- DS1211
- DS1220Y
- 3458A DMM에 하나 사용한다.
- DS1225Y-200
- HP 54645A 오실로스코프에 사용
- DS1230Y
- DS1235Y
- 규격서 - 7p
- 최소 5년간 데이터 보존(retention)
- 내장 배터리 두 개가 자동으로 스위칭하여 신뢰성을 확보한다.
- 3458A DMM에 두 개 사용한다.
- 규격서 - 7p
- DS1245Y
- DS1245Y 규격서 - 13p
- Tektronix TDS540 오실로스코프에서
- HP 54652B RS-232/Parallel Interface Module
Dallas DS1230Y-120, 256k NV-SRAM
- STMicroelectronics
- M48Z18
- 규격서 - 18p
- 어느 인터넷에서, 오실로스코프에서 개조방법 사진
- HP 54602B 오실로스코프에서, 여기 배터리를 살려야 계측기를 정상적으로 사용할 수 있다.
- 1호기
- 수정전
- 배터리가, 마킹기준으로 오른쪽에 있다는 사실을 알고 파내기 시작
- 배터리 발견
- 배터리 뽑아내고, 외부 단자를 뽑기 위해 계속 작업
1차-BR 전지를 뽑아냄. Rayovac BR1225 USA
- 외부에서 CR2032를 넣기 위해 전지 홀더를 부착함.
- 다음번에 패키지 오른쪽 측면만 파내어 전지 연결선을 찾는 것이 편할 듯
- 전원을 켤 때, 오류 메시지 나오지 않고, self calibration 실시 후 정상적인 측정값을 보인다.
- 수정전
- 2호기
- 1호기
- HP 54620A Logic Analyzer
- HP 54620C 로직분석기
- 규격서 - 18p
- M48Z18
- 자이코 Xicor X2212D, 256x4bit NV-SRAM
- 데이터시트 , EEPROM과 SRAM을 동시에 만들어 데이터를 교환하여 비휘발성 기능을 발휘.
- Keithley 195A DMM