1년, 363일, 4시간 - Togotech

"TEG"의 두 판 사이의 차이

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image:zodiac2_024_009.jpg | 레이어별 공정 진행
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image:tds460a01_081.jpg | 다이 왼쪽에서 면적의 약 10%차지하고 있음
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<li> [[Tektronix TDS540]] 오실로스코프에서
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<li>flash 방식 [[ADC]] 다이
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image:tds540_05_023.jpg | M606A Tek, 8-bit 분해능을 갖기 때문에 256개 voltage comparator가 있다.
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image:tds540_05_027.jpg | [[TEG]]
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<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]에서
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image:a710s01_061.jpg | 여러 개 [[TEG]] 중 하나
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<li>SAW 필터에서 [[SAW대문]]
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<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]
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image:a710s01_076_010.jpg | [[TEG]] 막대기 폭 1.5um, 우하단: 1차전극 2차전극 정렬도 검사 패턴
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2021년 3월 10일 (수) 15:37 판

TEG; Test Element Group

  1. 전자부품
    1. TEG - 이 페이지
  2. 인쇄패턴으로
    1. Solartron Schlumberger 7060 DMM에서
      1. 멤브레인 스위치

        • 저항측정을 위한 잉크R 테스트 패턴 TEG

        • 7060a01 033.jpg
  3. PCB 동박패턴으로
  4. 반도체 노광 패턴으로
    1. 모바일게임기 Zodiac2 LCD 패널에서
      1. 위치
        • zodiac2 024 001.jpg
      2. TEG
        1. 3가지
          • zodiac2 024 002.jpg
        2. 공정별 얼라인 체크-1
          • zodiac2 024 003.jpg
        3. 공정별 얼라인 체크-2
          • zodiac2 024 004.jpg
          • zodiac2 024 005.jpg
        4. 전기적 특성 체크
          • zodiac2 024 006.jpg
          • zodiac2 024 007.jpg

          • 4단자 측정

      3. 기타

        • 레이어별 공정 진행

        • 얼라인 키

      4. 회로

        • DDI 본딩된 곳

        • LCD 가장자리

    2. 라인어스, Electrophoretic Display(EPD) 방식 에서
      • epaper2 008.jpg
      • epaper2 009.jpg
    3. Tektronix TDS460A 오실로스코프에서
      1. MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
        • tds460a01 076.jpg

        • 다이 왼쪽에서 면적의 약 10%차지하고 있음

        • tds460a01 082.jpg
        • tds460a01 083.jpg
        • tds460a01 084.jpg
        • tds460a01 086.jpg
        • tds460a01 087.jpg
        • tds460a01 088.jpg
        • tds460a01 089.jpg
        • tds460a01 090.jpg
    4. Tektronix TDS540 오실로스코프에서
      1. flash 방식 ADC 다이

        • M606A Tek, 8-bit 분해능을 갖기 때문에 256개 voltage comparator가 있다.

        • TEG

    5. 2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 SM-A710S에서

      • 여러 개 TEG 중 하나

    6. SAW 필터에서 SAW대문
      1. 2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 SM-A710S

        • TEG 막대기 폭 1.5um, 우하단: 1차전극 2차전극 정렬도 검사 패턴

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