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<li>6389D1에서. +6.2kV 50회 그리고 -6.2kV 50회 인가 시험 후
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<li>5457TS-4에서,
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<li> [[Agilent 4339B]] 고저항측정기로 절연저항 측정 , 0~100V 절연저항 측정 엑셀 파일
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<li>+6.2kV 인가 후
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<li>핸드폰 분해하면서, SAW 필터에서
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<li>2012 삼성 갤럭시 S3 [[SHV-E210K]]
 
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<li>2015 [[LG-F570S]] LG Band Play 에서
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<li>2015.06 출시 [[LG-F570S]] LG Band Play 스마트폰
 
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image:lg_f570s_040_014.jpg | [[정전기]] 파괴 패턴
 
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<li> [[SAW-핸드폰DPX]]
 
<li> [[SAW-핸드폰DPX]]
 
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<li>2007.07 제조품 Motorola [[MS500]] 피처폰에서
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<li>2005.05 출시 Motorola [[MS500]] 폴더 피처폰
 
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image:ms500_01_031.jpg | 정전기 파괴
 
image:ms500_01_031.jpg | 정전기 파괴
 
image:ms500_01_032.jpg | 정전기 파괴
 
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2024년 11월 29일 (금) 12:35 기준 최신판

ESD 손상

  1. 전자부품
    1. 산업용
      1. ESD
      2. 정전기
        1. ESD 손상 - 이 페이지
    2. 참조
      1. SAW필터에서 초전성
  2. 정전기에 의한 파괴
    1. RF스위치IC
      1. TC742
    2. SAW 필터로 실험
      1. TV-IF필터로
        1. 6389D1에서. +6.2kV 50회 그리고 -6.2kV 50회 인가 시험 후
        2. 5457TS-4에서,
          1. Agilent 4339B 고저항측정기로 절연저항 측정 , 0~100V 절연저항 측정 엑셀 파일
          2. +3.0kV 인가 후
          3. +6.2kV 인가 후
        3. 의견
          1. 가장 가까운 전극사이에서 방전이 일어난다. 그렇지 않는 곳에서 관찰되면 그곳에 뭔가 결함이 있기 때문이다.
          2. 방전이 일어나면 전극이 녹아 금속이온이 발라지거나, 카본이 발생되어 절연저항이 낮아진다.
    3. 핸드폰 분해하면서, SAW 필터에서
      1. 2012 삼성 갤럭시 S3 SHV-E210K
        1. 다이 패턴
        2. 정전기 파괴 영역1
        3. 정전기 파괴 영역2 - 동일 전위를 갖는 반사기임에도 정전파괴가 관찰된다.
        4. 정전기 파괴 영역3
      2. 2014.07 제조 LG-F460S LG G3 Cat.6 스마트폰
        1. Tx SAW 다이 - 불에 태워서 PCB와 분리함
      3. 2015.06 출시 LG-F570S LG Band Play 스마트폰
      4. 2016.01 출시 삼성 SM-A710S 갤럭시 A7 LTE 스마트폰
        1. H876BA3 MP3 WJL
        2. HG56BA0 MP9 KRF KYH
        3. HG60CC0 MP3 WJL
      5. SAW-핸드폰DPX
        1. 2005.05 출시 Motorola MS500 폴더 피처폰
  3. 정전기로 추정
    1. CMC CMCS0511B SPDT RF 스위치