NV-SRAM
NV-SRAM
- 전자부품
- NonVolatile SRAM 콘트롤러로 구분함.
- 기술
- HP 계측기(오실로스코프 등)에서, cal 데이터를 저장한다.
- 자료
- FAQ - 7p
- 외부에서 배터리 전압을 측정하지 못한다. 대부분 그렇게 만들었다.
- Flash Memory는 쓰기에 오래 걸린다.
- Flash 메모리는 쓰기 횟수에 제한이 있다. 그러나 SRAM은 무제한 쓰기가 가능하다.
- Flash 메모리는 블록단위로 쓸 수 있다. 반면에 SRAM은 개별 바이트로 읽기 쓰기가 가능하다.
- FAQ - 7p
- 기술
- Dallas Semiconductor
- DS1210S
- DS1211
- DS1220Y
- 3458A DMM에 하나 사용한다.
- DS1225Y-200
- HP 54645A 오실로스코프에 사용
- DS1230Y
- DS1235Y
- 규격서 - 7p
- 최소 5년간 데이터 보존(retention)
- 내장 배터리 두 개가 자동으로 스위칭하여 신뢰성을 확보한다.
- 3458A DMM에 두 개 사용한다.
- 규격서 - 7p
- DS1245Y
- DS1245Y 규격서 - 13p
- Tektronix TDS540 오실로스코프에서
- HP 54652B RS-232/Parallel Interface Module
Dallas DS1230Y-120, 256k NV-SRAM
- STMicroelectronics
- M48Z18
- 규격서 - 18p
- 어느 인터넷에서, 오실로스코프에서 개조방법 사진
- HP 54602B 오실로스코프에서, 여기 배터리를 살려야 계측기를 정상적으로 사용할 수 있다.
- 1호기
- 수정전
- 배터리가, 마킹기준으로 오른쪽에 있다는 사실을 알고 파내기 시작
- 배터리 발견
- 배터리 뽑아내고, 외부 단자를 뽑기 위해 계속 작업
1차-BR 전지를 뽑아냄. Rayovac BR1225 USA
- 외부에서 CR2032를 넣기 위해 전지 홀더를 부착함.
- 다음번에 패키지 오른쪽 측면만 파내어 전지 연결선을 찾는 것이 편할 듯
- 전원을 켤 때, 오류 메시지 나오지 않고, self calibration 실시 후 정상적인 측정값을 보인다.
- 수정전
- 2호기
- 1호기
- HP 54620A Logic Analyzer
- HP 54620C 로직분석기
- 규격서 - 18p
- M48Z18
- 자이코 Xicor X2212D, 256x4bit NV-SRAM
- 데이터시트 , EEPROM과 SRAM을 동시에 만들어 데이터를 교환하여 비휘발성 기능을 발휘.
- Keithley 195A DMM