136일, 11시간, 18분 - Togotech

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<li>14/05/13  대차 바퀴로 교환함
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<li> [[포지셔너]]
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<li>14/09/12 김동현사장으로 선물받은, 척 베이스(진공, 자석 모두 가능)
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<li>반도체 웨이퍼 테스트 워크샵 semiconductor wafer test workshop - 319p
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<li>Keythley S530 반도체 파라메터 테스트 시스템, V-I 및 V-C 측정을 프루버에서 측정할 수 있게 만든 시스템
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<li>KTE 소프트웨어 매뉴얼
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<li>회사별 프루버 드라이버 매뉴얼
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<li>수식
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<li>3점 원의 방정식 [[circle-ibw.txt]]
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<li>분석 엑셀
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<li>반지름 특성 분석 엑셀 파일
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<li>투고기술 보유, EG2001X 프루버
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<li>프루빙 장면
 
<li>프루빙 장면
 
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<li>16/09/11, 6인치 지멕 마이크로히터,
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<li>20/04/19 문제없이 돌아감
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image:6inch01_001.jpg|6인치 웨이퍼 로딩
 
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image:6inch01_002.jpg|척 이물질 때문에 웨이퍼 깨짐. 이물 제거
 
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image:6inch01_003.jpg|프루빙 준비
 
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image:6inch01_004.jpg|프루빙
 
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image:6inch01_005.jpg|6인치 웨이퍼 스캐닝
 
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image:6inch01_006.jpg|좌표 .XY 입력
 
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image:6inch01_007.jpg|사분면 각 다른 패턴-저항 측정
 
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image:6inch01_008.jpg|4분면 저항
 
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<li>포지셔너
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<li>Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
 
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<li>10/05/27 인계동사무실에서
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<li>고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
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<li>우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
 
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image:tokyo_seimitsu01_006.jpg | EM-20, Semiconductor Tester
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image:tokyo_seimitsu01_004.jpg | A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
 
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<li>15/08/17
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<li>좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
 
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image:probe2_001.jpg|,
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image:tokyo_seimitsu01_002.jpg
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image:tokyo_seimitsu01_005.jpg | EM-20A, Semiconductor Tester
 
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<li>15/09/14
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<li>간이 프루버
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<li>2006년 8월 기구부 약 150만원에 제작함
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<li>사진
 
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image:prober2_001.jpg | 16/02/05
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image:prober2_002.jpg | 포지셔너 어댑터 추가를 위한 높이 측정
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image:prober2_002_1.jpg | 빨강 도면 제작할 것.
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image:prober2_003.jpg | 6인치 안 들어감. 현미경 문제없음.
 
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<li>간이 프루버
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<li> [[가스센서]]용
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<li>가스 챔버용 [[프루버]]와 [[포지셔너]]
 
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<li><gallery>
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<li>2024/07/04 [[나노코리아 / 레이저코리아 / 첨단세라믹 / 접착코팅필름산업전 / 스마트센서코리아 2024]] - 이 페이지
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image:prober2_001.jpg|16/02/05
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image:prober2_002.jpg|포지셔너 어댑터 추가를 위한 높이 측정
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image:nano_korea2024_004.jpg | 가스챔버 밑면에 히터. [[4-Point Probe]]를 위한 [[프루버]] 및 [[포지셔너]]
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image:prober2_002_1.jpg|빨강 도면 제작할 것.
 
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image:prober2_003.jpg|6인치 안 들어감. 현미경 문제없음.
 
 
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<li>온도 특성 측정용
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<li>Simtrum 회사 홈 페이지 https://www.simtrum.com/
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 +
<li>Heating & Cryo Stages for Microscopy, -190'C~1200'C
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<li> - 7p
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2024년 7월 10일 (수) 09:31 기준 최신판

프루버

  1. 전자부품
    1. 기구
      1. 프루버 - 이 페이지
        1. 모델
          1. EG 2001X 프루버
        2. 액세서리
          1. 포지셔너
          2. 잉커
          3. 프루브카드
          4. 에지 센서
        3. 프루버 동작
          1. 프루버 프로그래밍
          2. 이동 좌표 생성
        4. 프루빙
          1. 실리콘 다이오드 웨이퍼
          2. LED 프루빙
          3. 저항 프루빙
          4. 정전용량 프루빙
    2. 참고
      1. 프루빙 서비스
      2. 웨이퍼
  2. 참고 자료
    1. 반도체 웨이퍼 테스트 워크샵 semiconductor wafer test workshop - 319p
    2. Keythley S530 반도체 파라메터 테스트 시스템, V-I 및 V-C 측정을 프루버에서 측정할 수 있게 만든 시스템
      1. KTE 소프트웨어 매뉴얼
      2. 회사별 프루버 드라이버 매뉴얼
    3. 수식
      1. 3점 원의 방정식 circle-ibw.txt
    4. 분석 엑셀
      1. 반지름 특성 분석 엑셀 파일
  3. 투고기술 보유, EG2001X 프루버
    1. 프루빙 장면
      1. 14/05/12 와이솔 TC SAW, 테스트패턴 온도계수 측정하는 중
        • 140512 153814.jpg
        • 140512 175648.jpg
      2. 14/06/25 1GHz 공진기 측정중
        • 140625 161014.jpg
      3. 20/04/19 문제없이 돌아감
  4. 압전 연구실 2017/04/20
    • eg2001x02 001.jpg
  5. Tokyo Seimitsu, A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
    1. 고장 - 동일한 프루빙 시스템(프루버+테스터)를 찾음
      1. 우측 장치 - (상단) EM-20, Semiconductor Tester (하단)A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine
        • tokyo seimitsu01 001.jpg

        • EM-20, Semiconductor Tester

        • tokyo seimitsu01 003.jpg

        • A-PM-50A, Automatic Wafer Probing Machine

      2. 좌측 장치 - Tokyo Seimitsu, EM-20A, Semiconductor Tester (모니터, 키보드, FDD, 그리고 밑에 빽빽한 보드 캐비넷)
        • tokyo seimitsu01 002.jpg

        • EM-20A, Semiconductor Tester

  6. 간이 프루버
    1. 2006년 8월 기구부 약 150만원에 제작함
    2. 사진

      • 16/02/05

      • 포지셔너 어댑터 추가를 위한 높이 측정

      • 빨강 도면 제작할 것.

      • 6인치 안 들어감. 현미경 문제없음.

  7. 가스센서용
    1. 가스 챔버용 프루버와 포지셔너
      1. 2024/07/04 나노코리아 / 레이저코리아 / 첨단세라믹 / 접착코팅필름산업전 / 스마트센서코리아 2024 - 이 페이지
  8. 온도 특성 측정용
    1. Simtrum 회사 홈 페이지 https://www.simtrum.com/
      1. Heating & Cryo Stages for Microscopy, -190'C~1200'C
        1. - 7p
원본 주소 "http://www.togotech.co.kr/index.php?title=프루버&oldid=75950"