"TEG"의 두 판 사이의 차이

2022년 11월 24일 (목) 21:46 기준 최신판

TEG; Test Element Group

전자부품
1. 광관련
  1. 반도체 관련
    1. TEG - 이 페이지
      1. 광학 해상도 차트 - 이 페이지 optical resolution charts
    2. IC 표식
    3. Copyright
  2. 참고
    2. 포토마스크
인쇄패턴으로
1. Solartron Schlumberger 7060 DMM에서
  1. 멤브레인 스위치
    - 저항측정을 위한 잉크R 테스트 패턴 TEG
PCB 동박패턴으로
실리콘 반도체 다이에서
1. PowerPC 7450(G4) 프로세서
  - TEG
2. 인텔 8085 MCU 에서
  - NEC D8085AH
  - 3단자를 사용한 TEG
  - 오른쪽 1번 본딩패드에서 반시계방향으로 회전해서, 왼쪽 40번까지
3. Tektronix TDS460A 오실로스코프에서
  1. MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
    - 다이 왼쪽에서 면적의 약 10%차지하고 있음
4. Tektronix TDS540 오실로스코프에서
  1. flash 방식 ADC 다이
    - M606A Tek, 8-bit 분해능을 갖기 때문에 256개 voltage comparator가 있다.
    - TEG
5. 트랜시버 IC
  1. RTR6250 RF chip(GSM(900,1800,1900) + W-CDMA(2100) transmit)
    - 위쪽 다이싱 여백에 해상도 챠트
    - 아랫쪽 다이싱 여백에 공정 챠트
6. UNISEF, CDP에서
  - 상단 전체에 각종 [[TEG] 패턴들이 배열되어 있음.
  - 3개 layer에 대한 alignment 체크용 TEG
7. TR6878 DMM에서
  1. 패키징
    - Fujitsu, MB60H125 8510(85년 10로트)
  2. 1사분면 코너
  3. 2사분면 코너
  4. 4사분면 코너
8. 압력센서, COPAL(Nidec) P-3000S-102G-10, 0~98kPa(0~1kgf/cm2) analog output(Resistance)
  - 정렬키 align key
  - 광학 해상도 차트
9. AMI회사 제어기용 ASIC, American Microsystems, Inc. -> AMI Semiconductor(-> ON Semiconductor), 이 회사는 ASIC을 전문으로 만든다.
  - AMI 1997, Copyright 마크
  - Idaho IC 표식
  - 공정별 해상도 차트 06825006 TEG
지자기센서라고 부르는 나침반, AKM AK8963
- 4164 AKM 2011
- 회사로고 IC 표식
- TEG
카메라 모듈 이미지 센서에서
1. 2014 삼성 갤럭시 S5 SM-G906S
  - CL RED GRN TEG
LCD 유리판에서
1. 모바일게임기 Zodiac2 LCD 패널에서
  1. 위치
  2. TEG
    1. 3가지
    2. 공정별 얼라인 체크-1
    3. 공정별 얼라인 체크-2
    4. 전기적 특성 체크
      - 4단자 측정
  3. 기타
    - 레이어별 공정 진행
    - 얼라인 키
  4. 회로
    - DDI 본딩된 곳
    - LCD 가장자리
2. 라인어스, Electrophoretic Display(EPD) 방식 에서
3. 2007년 팬택&큐리텔 스위블 피처폰 canU701D, 핸드폰 LCD
  - 10050x1256 픽셀 사진
  - 치수 검사 패턴(?)
  - 정렬도 vernier 검사패턴(VARNIER 철자로 적혀 있음)
  - 4단자로 전기적 특성 측정 TEG
  - 니콘 스테퍼 얼라인 키로 추정
  - ACF 금속볼이 찌그러진 형태를 관찰할 수 있는 영역
OLED에서
1. 2014 삼성 갤럭시 S5 SM-G906S
  1. 광학 해상도 차트
  2. TEG 2
2. 2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 SM-A710S에서 OLED 에서
  - 여러 개 TEG 중 하나

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 <ol>
 <li> [[전자부품]]
+<ol>
+<li>광관련
 <ol>
 <li>반도체 관련
 <ol>
 <li> [[TEG]] - 이 페이지
+<ol>
+<li> [[광학 해상도 차트]] - 이 페이지  optical resolution charts
+</ol>
 <li> [[IC 표식]]
 <li> [[Copyright]]
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 <li>
 <li> [[포토마스크]]
+</ol>
 </ol>
 </ol>
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 <li>실리콘 반도체 다이에서
 <ol>
+<li> [[PowerPC]] 7450(G4) 프로세서
+<gallery>
+image:power_mac_g4_078.jpg | [[TEG]]
+</gallery>
 <li>인텔 8085 [[MCU]] 에서
 <gallery>
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 <gallery>
 image:mx8000sm2_015_015.jpg | 정렬키 align key
-image:mx8000sm2_015_016.jpg | [[TEG]]
+image:mx8000sm2_015_016.jpg | [[광학 해상도 차트]]
 </gallery>
 <li>AMI회사 [[제어기]]용 ASIC, American Microsystems, Inc. -> AMI Semiconductor(-> ON Semiconductor), 이 회사는 ASIC을 전문으로 만든다.
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 </gallery>
 </ol>
+<li>지자기센서라고 부르는 [[나침반]], AKM AK8963
+<gallery>
+image:iphone5s01_153.jpg | 4164 AKM 2011
+image:iphone5s01_154.jpg | 회사로고 [[IC 표식]]
+image:iphone5s01_155.jpg | [[TEG]]
+</gallery>
 <li> [[카메라 모듈]] 이미지 센서에서
 <ol>
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 image:epaper2_008.jpg
 image:epaper2_009.jpg
+</gallery>
+<li>2007년 팬택&큐리텔 스위블 피처폰 [[canU701D]], [[핸드폰 LCD]]
+<gallery>
+image:canu701d_055.jpg | 10050x1256 픽셀 사진
+image:canu701d_056.jpg | 치수 검사 패턴(?)
+image:canu701d_057.jpg | 정렬도 vernier 검사패턴(VARNIER 철자로 적혀 있음)
+image:canu701d_058.jpg | 4단자로 전기적 특성 측정 [[TEG]]
+image:canu701d_059.jpg | 니콘 스테퍼 얼라인 키로 추정
+image:canu701d_060.jpg | ACF 금속볼이 찌그러진 형태를 관찰할 수 있는 영역
 </gallery>
 </ol>
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 <li>2014 삼성 갤럭시 S5 [[SM-G906S]]
 <ol>
-<li> [[TEG]] 1
+<li> [[광학 해상도 차트]]
 <gallery>
 image:sm_g906s_013.jpg
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 <gallery>
 image:a710s01_061.jpg | 여러 개 [[TEG]] 중 하나
-</gallery>
-</ol>
-<li>SAW 다이에서
-<ol>
-<li>SAW 필터에서 [[SAW대문]]
-<ol>
-<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]
-<gallery>
-image:a710s01_076_010.jpg | [[TEG]] 막대기 폭 1.5um, 우하단: 1차전극 2차전극 정렬도 검사 패턴
-</gallery>
-</ol>
-<li> [[400MHz RF SAW 필터]]
-<gallery>
-image:s422pa01_007.jpg | 해상도챠트
 </gallery>
 </ol>
 </ol>