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| + | image:canu701d_057.jpg | 정렬도 vernier 검사패턴(VARNIER 철자로 적혀 있음) | ||
| + | image:canu701d_058.jpg | 4단자로 전기적 특성 측정 [[TEG]] | ||
| + | image:canu701d_059.jpg | 니콘 스테퍼 얼라인 키로 추정 | ||
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2022년 11월 12일 (토) 23:08 판
TEG; Test Element Group
- 전자부품
- 인쇄패턴으로
- PCB 동박패턴으로
- 실리콘 반도체 다이에서
- 인텔 8085 MCU 에서
NEC D8085AH
3단자를 사용한 TEG
오른쪽 1번 본딩패드에서 반시계방향으로 회전해서, 왼쪽 40번까지
- Tektronix TDS460A 오실로스코프에서
- MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
다이 왼쪽에서 면적의 약 10%차지하고 있음
- MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
- Tektronix TDS540 오실로스코프에서
- flash 방식 ADC 다이
M606A Tek, 8-bit 분해능을 갖기 때문에 256개 voltage comparator가 있다.
- flash 방식 ADC 다이
- 트랜시버 IC
- RTR6250 RF chip(GSM(900,1800,1900) + W-CDMA(2100) transmit)
위쪽 다이싱 여백에 해상도 챠트
아랫쪽 다이싱 여백에 공정 챠트
- RTR6250 RF chip(GSM(900,1800,1900) + W-CDMA(2100) transmit)
- UNISEF, CDP에서
상단 전체에 각종 [[TEG] 패턴들이 배열되어 있음.
3개 layer에 대한 alignment 체크용 TEG
- TR6878 DMM에서
- 패키징
Fujitsu, MB60H125 8510(85년 10로트)
- 1사분면 코너
- 2사분면 코너
- 4사분면 코너
- 패키징
- 압력센서, COPAL(Nidec) P-3000S-102G-10, 0~98kPa(0~1kgf/cm2) analog output(Resistance)
정렬키 align key
- AMI회사 제어기용 ASIC, American Microsystems, Inc. -> AMI Semiconductor(-> ON Semiconductor), 이 회사는 ASIC을 전문으로 만든다.
- 인텔 8085 MCU 에서
- 카메라 모듈 이미지 센서에서
- LCD 유리판에서
- 모바일게임기 Zodiac2 LCD 패널에서
- 위치
- TEG
- 3가지
- 공정별 얼라인 체크-1
- 공정별 얼라인 체크-2
- 전기적 특성 체크
4단자 측정
- 3가지
- 기타
레이어별 공정 진행
얼라인 키
- 회로
DDI 본딩된 곳
LCD 가장자리
- 위치
- 라인어스, Electrophoretic Display(EPD) 방식 에서
- 2007년 팬택&큐리텔 스위블 피처폰 canU701D, 핸드폰 LCD
10050x1256 픽셀 사진
치수 검사 패턴(?)
정렬도 vernier 검사패턴(VARNIER 철자로 적혀 있음)
4단자로 전기적 특성 측정 TEG
니콘 스테퍼 얼라인 키로 추정
ACF 금속볼이 찌그러진 형태를 관찰할 수 있는 영역
- 모바일게임기 Zodiac2 LCD 패널에서
- OLED에서
